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高質(zhì)量糖的生產(chǎn)依賴于晶體生長,而過飽和正是促進(jìn)晶體生長的原動力。結(jié)晶速度是多個參數(shù)的函數(shù)。過飽和度的定義為:母液的實際糖濃度與相同溫度下的飽和糖濃度的比值。
過飽和度有一個最佳范圍,在這個范圍內(nèi),糖晶體均勻而廣泛地生長,達(dá)到所需的晶體粒度。在此范圍之外,晶體將停止生長,甚至可能自然熔化或開始形成新晶體,產(chǎn)生需要回溶再加工的粉晶和黏晶。這會帶來重大影響,因為這種情形會導(dǎo)致時間和能源的浪費、增加生產(chǎn)成本和水的消耗,并減少糖的有效產(chǎn)量。
為了制定能夠解決這些難題的基于過飽和度的控制解決方案,工廠為煮糖罐配備了維薩拉 K-PATENTS® SeedMaster SM-3 系統(tǒng),該系統(tǒng)能夠為過飽和度計算提供實時數(shù)據(jù)。SeedMaster 專為糖結(jié)晶應(yīng)用場景而設(shè)計。該系統(tǒng)由在線折光儀和多參數(shù)監(jiān)測設(shè)備組成,可提供糖結(jié)晶所需的參數(shù),并能夠支持全自動控制解決方案的實施。
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