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CSK-IA試塊的主要作用

CSK-IA試塊的主要作用如下:
1.測定斜探頭入射點

2.測定斜探頭的K值

3.水平線性（時基線性）、垂直線性的檢驗

4.橫波探測范圍和掃描速度的調整

5.測定儀器和斜探頭的遠場分辨力

6.測定斜探頭聲束軸線偏離

7.縱波探測范圍和掃描速度的調整

8.測定儀器和直探頭的遠場分辨力

9.盲區(qū)的估計

10.大穿透能力估計

11.探測靈敏度的調整

CSK-IA試塊是我國承壓設備無損檢測標準NB/T47013中規(guī)定的標準試塊，其結構尺寸如圖所示。

1.測定斜探頭入射點

將探頭置于圖示位置，向R100mm的圓弧發(fā)射超聲波，前后移動探頭，直到R100mm圓弧面反射波達到點，此時與CSK-1A試塊側面標線中心點“0”相對應的探頭契塊那一點即為探頭入射點。

2.測定斜探頭的K值

根據(jù)探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進行測量，如圖所示。波形圖同于入射點波形圖。

測量時，探頭應放正使波束中心線與試塊側面平行，前后移動探頭，找到50mm孔或1.5mm孔的反射波。此時，聲束中心線必然與入射點和圓心之間的連線相重合，即聲束中心線垂直于孔表面。這時，試塊上與入射點相應的角度線所標的值即為該斜探頭的K值。

3.水平線性（時基線性）、垂直線性的檢驗

水平線性

①選擇要調校的儀器和直探頭，進行校準，校準完畢后進行下一步。

②將直探頭用探頭壓塊壓在CSK-IA試塊25mm厚的平面上，中間加適量耦合劑，調節(jié)儀器使熒光屏顯示出6次底波。

③用閘門套住一次底波，調節(jié)一次底波為滿刻度的50%，顯示讀數(shù)為深度25mm，依次為基準。

④用閘門套取二次波，并調節(jié)二次底波為滿刻度的50%，記錄深度讀數(shù)。

⑤按第4步依次記錄三次，四次，五次、六次波的深度讀數(shù)

⑥取出5次偏差值的大值Amax，水平線性偏差值B為(Amax/1.25)%。

垂直線性

①選擇要調校的儀器和直探頭，進行校準，校準完畢后進行下一步。

②將直探頭用探頭壓塊壓在DB-P  Z20-2試塊上，中間加適量耦合劑，調節(jié)儀器使熒光屏顯示出Ф2平底空回波，并置于屏幕的適當位置。

③用閘門套住Ф2平底空回波，調節(jié)回波至滿刻度的100%，此時基準增益至少有30dB的讀數(shù)。

④以每次減少2dB為準，直到衰減26dB，并記錄下回波波幅從滿刻度的下降量，填入下表，測量的準確度為0.1%。

⑤取出偏差值的大正偏差值和大負偏差值，取兩個數(shù)的值之和為垂直線性誤差，公式為：Δd=|d(+)|+|d(-)|。

4.橫波探測范圍和掃描速度的調整

由于縱波的聲程91mm相當于橫波聲程50mm，因此可以利用試塊上91mm來調整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波1:1，先用直探頭對準91底面，是B1、B2分別對準50、100，然后換上橫波探頭并對準R100圓弧面，找到回波，并調至100即可。

5.測定儀器和斜探頭的遠場分辨力

（1）探頭置于如圖所示位置，對準50mm、44mm、40mm階梯孔，使示波屏上出現(xiàn)三個反射波。

（2）平行移動探頭并調節(jié)儀器，使50mm、44mm回波等高，如圖所示，其波峰和波谷分別為h1、h2，其分辨力為NB/T47013-2015中規(guī)定，斜探頭的遠場分辨力大于等于12分貝。

6.測定斜探頭聲束軸線偏離

在CSK-ⅠA試塊上厚25mm的平面上，使聲束指向棱邊，對于K值小于等于1的探頭，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角；K值大于1的聲束指向下棱角，前后左右擺動探頭，使所測棱邊端角回波幅度，固定探頭不動，然后用量角器或適當?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法線的夾角（例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角），即為聲束軸線偏斜角。應當注意：斜探頭的聲束擴散角較大時，可能影響到大回波的探測，以致可能產生較大的測量誤差。

7.縱波探測范圍和掃描速度的調整

在利用縱波探傷時，可以利用試塊的已知厚度來調整探測范圍和掃描速度，此過程我往往和檢驗時基線性同步進行。當探測范圍在250mm以內時，可將探頭置于25mm厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四，十次底部回撥位于刻度十，則刻度十就代表實際探測聲程為250mm。當探測聲程范圍大于250mm時，可將探頭置于如圖的B或C處，使各次底波位于相應的刻度處，此時起始零點亦同時得到修正。

8.測定儀器和直探頭的遠場分辨力

（1）探頭置于如圖所示位置，左右移動探頭，調節(jié)增益，使顯示屏上出現(xiàn)85、91、100三個反射回波A、B、C如圖所示，則波峰和波谷的分貝差20Lg(a/b)表示分辨力。

（2）NB/T47013-2015中規(guī)定，直探頭遠場分辨力大于等于20dB。
9.盲區(qū)的估計

盲區(qū)是指小的探測距離，測試方法是：將直探頭置于探頭位置圖中D、E位置，測量50mm圓孔反射波。從而可以估計出盲區(qū)小于等于5mm或大于等于10mm，或者介于兩者之間。

10.大穿透能力估計

將直探頭置于探頭位置圖中F位置，將儀器個靈敏度旋鈕均置于大，測試試塊中有機玻璃塊反射波次數(shù)和后一次反射波高度。以此來估計大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

11.探測靈敏度的調整

根據(jù)AVG原理，在探頭探傷時可把R100mm圓弧面視為大平底反射，以此來調整探測靈敏度。直探頭探傷時可把厚度為25/100mm的幾個側面視為大平底處理，以此來調整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測量1.5mm橫通孔反射波來確定靈敏度。