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卡彎扭曲測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。功能：長(zhǎng)邊彎曲、短邊彎曲、扭曲可同時(shí)測(cè)試。一次測(cè)試卡片數(shù)量：數(shù)量（長(zhǎng)邊彎曲)≥5張、數(shù)量（短邊彎曲）≥5張、數(shù)量（扭曲）≥5張，共計(jì)數(shù)量≥15張。扭曲完成或機(jī)器暫停時(shí)，短邊、長(zhǎng)邊彎曲槽和長(zhǎng)邊扭曲槽都可自由取卡。

卡彎扭曲測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)：HY(IC)

測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測(cè)試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長(zhǎng)邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊Z小位移量為2mm±0.50mm，

短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊Z小位移量為1mm±0.50mm，

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

 卡彎扭曲測(cè)試儀公司承諾：

1.購(gòu)機(jī)前，我們專門派技術(shù)人員為您設(shè)計(jì)Z佳的流程和方案

2.購(gòu)機(jī)后，將免費(fèi)指派技術(shù)人員為您調(diào)試安裝

3.整機(jī)保修一年，產(chǎn)品終身維護(hù)

4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長(zhǎng)期使用