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耐電壓測(cè)試基本原理以及安全測(cè)試性能 
 耐電壓測(cè)試 將被測(cè)產(chǎn)品在高壓機(jī)輸出的試驗(yàn)高電壓下產(chǎn)生的漏電流與設(shè)置的判斷,電流相比較,若檢查出的漏電流小于預(yù)設(shè)值,則判斷產(chǎn)品通過(guò)測(cè)試.檢查出的漏電流大于于判定電流,試驗(yàn)電壓瞬時(shí)切斷并發(fā)出聲光報(bào)警,測(cè)試程序顯示測(cè)試失敗.從而測(cè)定被測(cè)件的耐壓強(qiáng)度.

耐電壓測(cè)試（一）電介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試, 亦稱(chēng)hipot 測(cè)試, 大概是zui多人知道的和經(jīng)常執(zhí)行的生產(chǎn)線安全測(cè)試。實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的一部分。 hipot 測(cè)試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個(gè)非破壞性的測(cè)試。 這是適用于所有設(shè)備為保證絕緣材料是足夠的的一個(gè)高壓測(cè)試。 進(jìn)行hipot 測(cè)試的其它原因是, 它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過(guò)程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。

進(jìn)行型式測(cè)試的時(shí)候, hipot 測(cè)試是在某些測(cè)試（譬如失效, 潮態(tài)及振動(dòng)測(cè)試）之后進(jìn)行來(lái)確定是否因?yàn)檫@些測(cè)試造成絕緣的退化。但是，日常生產(chǎn)進(jìn)行的hipot 測(cè)試, 是制造過(guò)程中的測(cè)試來(lái)確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)是與型式測(cè)試所用產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)相同。 一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過(guò)在線hipot 測(cè)試檢查出來(lái)，例如, 變壓器繞組電氣間隙和爬電距離減小。 這樣的故障可能起因于繞線部門(mén)的一名新操作員。 其它例子包括檢查絕緣材料的針孔瑕疵或發(fā)現(xiàn)一個(gè)過(guò)大的焊點(diǎn)。

大多數(shù)安全標(biāo)準(zhǔn)使用2xU + 1000 V 的慣例作為基本的絕緣材料測(cè)試的依據(jù), 這里的U 是操作電壓（rms值）。 這個(gè)慣例僅僅作為一個(gè)指導(dǎo), 對(duì)于個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)特別是IEC 60950 提供了一個(gè)具體的表格來(lái)定義根據(jù)測(cè)量到的實(shí)際工作電壓來(lái)確定確切的測(cè)試電壓1.至于使用1000 V 作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過(guò)電壓 。 實(shí)驗(yàn)和研究表示, 這些過(guò)電壓通常高達(dá)1000 V 。

測(cè)試方法：
高壓通常是應(yīng)用的在橫跨被測(cè)試絕緣材料的二個(gè)部件之間, 譬如測(cè)試設(shè)備（EUT）的一次側(cè)電路（Primary Circuit）和金屬外殼。 如果絕緣材料在兩個(gè)部件之間是足夠的, 那么加在兩個(gè)由絕緣體分離的導(dǎo)體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過(guò)絕緣體。 雖然這個(gè)小電流是可接受的, 但是空氣絕緣或固體絕緣不應(yīng)該發(fā)生擊穿。 因此, 需要注意這個(gè)電流是因?yàn)榫植糠烹娀驌舸┑慕Y(jié)果, 而不是由于電容聯(lián)結(jié)引起的。

另外一個(gè)例子是對(duì)介于電源的一次（Primary）和二次（Secondary）電路之間的絕緣材料進(jìn)行測(cè)試。 這時(shí)所有輸出短接在一起。 耐壓測(cè)試儀的接地探針與短接在一起的輸出相連, 同時(shí)高壓探針與L 和N連接（L和N短接） (參見(jiàn)圖1) 。在hipot 測(cè)試期間EUT 不工作。 必須注意, 在進(jìn)行型式測(cè)試期間, 理想的情況是先加低于規(guī)定的電壓的1/2, 然后逐漸上升，并且在10 秒中達(dá)到規(guī)定電壓，并且維護(hù)1 分鐘。 然而，大多數(shù)測(cè)試儀器, 直接輸出規(guī)定電壓或使用一個(gè)電子控制線路來(lái)實(shí)現(xiàn)電壓的爬升。

測(cè)試持續(xù)時(shí)間：
如果測(cè)試是代表認(rèn)證過(guò)程的一部分, 那么測(cè)試持續(xù)時(shí)間必須是所使用的安全標(biāo)準(zhǔn)相符合。 例如,多數(shù)標(biāo)準(zhǔn), 包括IEC 60950 , 測(cè)試持續(xù)時(shí)間是1 分鐘。 但是, 當(dāng)在生產(chǎn)線對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試, 通常對(duì)每個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行1 分鐘hipot 測(cè)試是不實(shí)際的, 制造商通常會(huì)縮短測(cè)試時(shí)間, 譬如幾秒鐘, 但是使用更高的電壓。 一個(gè)典型的經(jīng)驗(yàn)法則是110-120% （2xU + 1000 V）, 1-2 秒。 測(cè)試持續(xù)時(shí)間和程序應(yīng)該得到相關(guān)測(cè)試機(jī)構(gòu)的同意。 值得注意的是, 雖然被減少的時(shí)間和增加的電壓是近似, 實(shí)驗(yàn)和制造商的’數(shù)據(jù)表明, 每種絕緣材料有它自己的具體電壓時(shí)間特征。

接地測(cè)試:接地回路阻抗相對(duì)小于人體阻抗模型。若有漏電，人體的分流會(huì)小到不至于讓心室懺動(dòng).
測(cè)試原理:接地電阻測(cè)試是安全性能測(cè)試很重要的一項(xiàng)測(cè)試。測(cè)試儀為測(cè)試產(chǎn)品提供一個(gè)恒定的大電流，該電流不隨負(fù)載的變化而變化。i給定，測(cè)量u，根據(jù)歐姆定律計(jì)算電阻R。

測(cè)試方法:在測(cè)試產(chǎn)品的接地點(diǎn)或輸入插口的接地觸點(diǎn)，對(duì)產(chǎn)品的外殼或金屬部份，施以一個(gè)恒流來(lái)測(cè)試兩點(diǎn)間的阻抗大小，該電流應(yīng)等于測(cè)試產(chǎn)品額定電流1.5倍或2（二者取較大者）。在測(cè)試產(chǎn)品的接地點(diǎn)或輸入插口的接地觸點(diǎn)與產(chǎn)品的外殼或金屬部份之間測(cè)量電壓降。由電流和該電壓降計(jì)算出電阻，該電阻值不應(yīng)超過(guò)0.1Ω。以此測(cè)試，可檢測(cè)出接地點(diǎn)螺絲未鎖緊、接地線徑太小、 接地線斷路等安全問(wèn)題。