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testo 745 - 非接觸式電壓測試筆
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注意事項:
1.選擇錯誤光纖熔接程序。2.光纖的端面切割角度過大。3.光學(xué)系統(tǒng)臟污,主要是反光鏡,物鏡臟污。4.V型槽臟污,光纖壓腳臟污。5.電極老化,導(dǎo)致放電強度過弱;電極放電過強也會導(dǎo)致熔接損耗過。6.放電位置偏移導(dǎo)致熔接損耗過大。7.光纖水平位置偏移。8.熔接機里的技術(shù)參數(shù)改變了也會導(dǎo)致熔接損耗過大。9.CCD 進灰塵也會導(dǎo)致熔接損耗過大。 10.熔接盤內(nèi)盤纖不規(guī)范,熔纖管安裝不合理。
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