PCT加速壽命試驗機理論依據(jù)

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PCT加速壽命試驗機理論依據(jù)

來源：東莞市華臺測試儀器有限公司 2014年03月04日 15:21

CT加速壽命試驗機理論依據(jù)：電子元器件的失效原因與器件本身所選用的材料、材料之間、器件表面或體內(nèi)、金屬化系統(tǒng)以及封裝結(jié)構(gòu)中存在的各種化學、物理的反應(yīng)有關(guān)。器件從出廠經(jīng)過貯存、運輸、使用到失效的壽命周期，*不在進行著緩慢的化學物理變化。在各種外界環(huán)境下，器件還會承受了各種熱、電、機械應(yīng)力，會使原來的化學物理反應(yīng)加速，而其中溫度應(yīng)力對失效zui為敏感。實踐證明，當溫度升高以后，器件劣化的物理化學反應(yīng)加快，失效過程加速，而Arrhenius模型就總結(jié)了由溫度應(yīng)力決定的化學反應(yīng)速度依賴關(guān)系的規(guī)律性，為PCT試驗機提供了理論依據(jù)。

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