一、電器產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。是在同一臺(tái)設(shè)備里同時(shí)做冷熱交替循環(huán)測(cè)試或恒溫試驗(yàn)。冷是指制冷,熱是指加熱,所有制冷設(shè)備均是采用進(jìn)口壓縮機(jī)作為冷凍系統(tǒng)的核心部件,在選材上始終以質(zhì)量高，耗電低，使用壽命長(zhǎng)，運(yùn)行穩(wěn)定而立不敗之地。加熱則是采用鎳鉻合金加熱絲：（電熱絲的種類(lèi)有鐵鉻鋁合金電熱絲和鎳鉻合金電熱絲。鎳鉻合金電熱絲的優(yōu)點(diǎn)是在高溫環(huán)境中的強(qiáng)度高，*高溫運(yùn)行不易變形，不易改變結(jié)構(gòu)，且鎳鉻合金電熱
二、電器產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | BS-40I | BS-80I | BS-100I | BS-150I | BS-252I | BS-450I | 內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm) | 400*350*300 | 500*400*400 | 500*450*450 | 600*500*500 | 700*600*600 | 800*750*750 | 外箱尺寸W*H*D(mm) | 1100*1930*1450 | 1200*2000*1550 | 1500*1950*1600 | 1300*1230*1670 | 1750*2120*1970 | 1900*2270*2210 | 重量(KG) | 700 | 900 | 1100 | 1200 | 1400 | 1900 | 溫度范圍 | （A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區(qū)：+60℃-150℃ 低溫區(qū)：-10℃--65℃ ） | 升溫時(shí)間（蓄熱區(qū)） | RT-200℃約35min | 降溫時(shí)間（蓄冷區(qū)） | RT—70℃約55min | 溫度回復(fù)/切換時(shí)間 | ≤5min / ≤5sec以內(nèi) | 溫度精度/分布精度 | ±0.5℃ ±2.5% ℃ | 冷卻方式 | 風(fēng)、水冷式/雙斷壓縮機(jī) | 電源 | AC380V+±10%V 50HZ/60HZ |
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三、冷熱沖擊試驗(yàn)箱??滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
四、冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備布局：
設(shè)備設(shè)計(jì)為整體式結(jié)構(gòu)，正前面上方為試驗(yàn)工作室，前面下方為預(yù)熱工作室，后面上方為預(yù)冷工作室，后面下方為制冷機(jī)組機(jī)械室，設(shè)備頂部安裝常溫沖擊循環(huán)風(fēng)道及送風(fēng)機(jī)，設(shè)備右側(cè)為電器控制箱。設(shè)備底部安裝移動(dòng)腳輪及定位腳杯可方便設(shè)備移動(dòng)及定位，預(yù)熱工作室、預(yù)冷工作室、常溫沖擊室、試驗(yàn)工作室間通過(guò)風(fēng)門(mén)切換互通，從而實(shí)現(xiàn)溫度快速交變的目的，同時(shí)占地面積較小節(jié)約使用場(chǎng)地。
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