目錄:長沙力高捷創(chuàng)儀器有限公司>>器件參數(shù)測試儀>>精密阻抗分析儀>> NF ZA57630 阻抗分析儀 日本回路設(shè)計
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更新時間：2022-07-03 13:42:54瀏覽次數(shù)：136評價
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結(jié)合用途配備豐富的功能
以DUT特性的設(shè)定，支持高重現(xiàn)性且準(zhǔn)確的測量
準(zhǔn)確的評價基于實際使用的操作條件
電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性，二極管等半導(dǎo)體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評價真實的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實際的操作條件下進(jìn)行測量。
● 掃頻
● 延遲功能
● 標(biāo)記操作
● 測量條件等的設(shè)定
● 自動高密度掃頻
● 順序測量
● 量程
● 誤差校正
● 圖表顯示
豐富的功能
● 共振點跟蹤測量
● 相對介電常數(shù)測量
● 外部基準(zhǔn)時鐘
● 等效電路估算
● 相對導(dǎo)磁率測量
● 存儲器操作
● 壓電常數(shù)計算
● 比較器 / 處理器接口
掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬
不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù)，按恒定的條件進(jìn)行測量，觀察不同時間的特性變化（橫軸：時間）
“True Value"
測量真正的特性。
▲ ZA57630
從電子零件、半導(dǎo)體器件到材料的特性評價，應(yīng)對多樣的阻抗測量需求
實現(xiàn)了業(yè)界的0.5ms/point。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時間，提高測量作業(yè)的效率。
此外，通過增加設(shè)定的測量時間，使測量結(jié)果平均化，減輕噪聲的影響?？梢曅枰x擇最合適的測量時間。
4種測量模式 應(yīng)對廣泛的DUT
本模式可以在廣泛的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測量?？墒褂脺y試線及測試夾具，應(yīng)對各種形狀的試樣。
本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進(jìn)行穩(wěn)定的測量。使用 N 型連接器進(jìn)行 2 端子測量，即便配線長，也可以進(jìn)行穩(wěn)定的測量。
本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進(jìn)行測量。
可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓 / 電流進(jìn)行單獨使用本儀器無法應(yīng)對的測量。
本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號，高精度地測量其頻率響應(yīng)（增益、相位）。
正面面板測量端子
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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