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測量范圍 | 0-2mm (其他量程可定制) | 測量精度 | 0.1um |
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產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
外形尺寸 | 450×340×390mm | 重量 | 23kgkg |
三泉中石高精度薄膜測厚儀CHY-U采用機械式測量方法,適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測量。
高精度薄膜測厚儀儀器優(yōu)勢:
(1)采用優(yōu)質(zhì)傳感器,測厚分辨率高達0.1微米選用優(yōu)質(zhì)傳動元件,確保了試驗結(jié)果的穩(wěn)定性與準確性。
(2)大液晶屏顯示,操作簡便,配備微型打印機直接打印試驗報告。
(3)另外具有電腦通信接口,通過選購軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)的*性存儲、查詢、打?。?br /> (4)軟件功能強大,可將成組試驗數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進行統(tǒng)計,試結(jié)報告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進行傳輸。
主要參數(shù):
儀器型號:CHY-U
生產(chǎn)單位:濟南三泉中石實驗儀器有限公司
測量范圍:0-2mm (其他量程可定制)
分辨率 :0.1um
測量速度:10 次/分(可調(diào))
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種
進樣步矩:0 ~ 1300 mm(可調(diào))
進樣速度 :0 ~ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23kg
應(yīng)用范圍:
(1)用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量。
(2)對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量。
(3)接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值
(4)通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積,完整各種紙張、紙板材料厚度測試。
執(zhí)行標準:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項標準
濟南三泉中石實驗儀器有限公司擁有先進的檢測技術(shù)、包裝檢測設(shè)備與專業(yè)實驗室,致力于為行業(yè)客戶提供全面、*的包裝質(zhì)量控制解決方案,高精度薄膜測厚儀檢測儀器三泉中石!
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