在女性衛(wèi)生用品的制造領(lǐng)域，衛(wèi)生巾底膜的厚度是衡量其品質(zhì)與舒適度的重要指標(biāo)之一。而衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x，正是這一關(guān)鍵環(huán)節(jié)的守護(hù)者，它以其精準(zhǔn)的測(cè)量能力，為生產(chǎn)企業(yè)提供了重要的質(zhì)量控制手段。今天，我們將深入探討濟(jì)南三泉中石的CHY-HS衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x，從定義、原理到技術(shù)優(yōu)勢(shì)，解析其優(yōu)勢(shì)。
測(cè)試原理
衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x，顧名思義，是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量衛(wèi)生巾底部薄膜厚度的精密儀器。它能夠在特定條件下，對(duì)衛(wèi)生巾底膜進(jìn)行非破壞性的厚度檢測(cè)，確保產(chǎn)品符合既定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和舒適度要求。衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x憑借其高效的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為了市場(chǎng)上備受矚目的焦點(diǎn)。濟(jì)南三泉中石的CHY-HS衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x采用先進(jìn)的接觸式測(cè)試原理。在測(cè)量過(guò)程中，截取一定尺寸試樣，儀器通過(guò)準(zhǔn)確控制的測(cè)量頭，以一定的壓力和接觸面積作用于衛(wèi)生巾底膜試樣上。此時(shí)，傳感器會(huì)實(shí)時(shí)捕捉并記錄試樣在受力下的微小形變，進(jìn)而通過(guò)復(fù)雜的算法計(jì)算出試樣的厚度值。這一過(guò)程不僅快速準(zhǔn)確，而且能夠有效避免因材料特性差異而導(dǎo)致的測(cè)量誤差。
測(cè)試步驟
準(zhǔn)備試樣：截取一定尺寸的衛(wèi)生紙樣品，確保其平整、無(wú)皺褶。
安裝測(cè)量頭：將測(cè)量頭固定在儀器上，確保安裝牢固。
放置試樣：將準(zhǔn)備好的試樣放置在測(cè)量臺(tái)上，確保其位置準(zhǔn)確。
開(kāi)始測(cè)量：?jiǎn)?dòng)儀器，測(cè)量頭將自動(dòng)降落于試樣上，進(jìn)行厚度測(cè)量。
記錄數(shù)據(jù)：儀器將實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果，用戶(hù)可記錄所需的數(shù)據(jù)。
應(yīng)用范圍
衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x不限于底膜厚度的檢測(cè)，同時(shí)也廣泛應(yīng)用與薄膜、紙張等領(lǐng)域，具體應(yīng)用范圍如下
產(chǎn)品名稱(chēng) | 適用范圍 |
薄膜 | 用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測(cè)量。 |
鋁箔 | 對(duì)金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度測(cè)量。 |
太陽(yáng)能硅片 | 接觸式測(cè)試原理更有效的檢測(cè)出太陽(yáng)能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值。 |
紙張 | 通過(guò)調(diào)節(jié)測(cè)量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測(cè)試。
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技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍 0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 0.1μm
測(cè)量速度 10 次/分（可調(diào)）
測(cè)量壓力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積 50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩 0 ～ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸 450mm×340mm×390mm
重量 23kg
濟(jì)南三泉中石CHY-HS衛(wèi)生巾底膜厚度測(cè)量?jī)x以其高效、全面的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，在女性衛(wèi)生用品制造領(lǐng)域展現(xiàn)出了強(qiáng)大的競(jìng)爭(zhēng)力和市場(chǎng)潛力。它不僅是生產(chǎn)企業(yè)質(zhì)量控制的得力助手，更是推動(dòng)行業(yè)技術(shù)進(jìn)步和產(chǎn)品創(chuàng)新的重要力量。
