篤摯儀器（上海）有限公司
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所 在 地上海
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更新時(shí)間：2022-07-30 09:57:44瀏覽次數(shù)：125次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)COULOSCOPECMS（庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度
•COULOSCOPE CMS （庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動(dòng)注液和清空測(cè)量槽的V18測(cè)量臺(tái)，以及SPC統(tǒng)計(jì)能力
•理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
•準(zhǔn)確地測(cè)量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
•存儲(chǔ)容量允許記錄和保存上千條的測(cè)量結(jié)果。
•可以通過RS232接口將存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)打印或輸出到PC電腦上。
COULOSCOPE CMS （庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）和COULOSCOPE CMS step功能對(duì)比：
分步測(cè)量 (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential) 是一種已定型很久的測(cè)試方法，用來測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。
COULOSCOPE® CMS STEP儀器高的電壓分辨率可以測(cè)量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（若需要，還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）。
? 吸引人的設(shè)計(jì)，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
? 操作簡(jiǎn)單，菜單指引的操作提示。
? 電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
? 大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測(cè)量線材。
? 可用于測(cè)量Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
? 基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測(cè)量版本 4種不同類型的測(cè)量臺(tái)適合于測(cè)量各種種類的被測(cè)物體。
測(cè)量臺(tái)V18有1個(gè)新 |
測(cè)量臺(tái)V24允許靈活 |
測(cè)量臺(tái)V26主要為 |
測(cè)量臺(tái)V27主要 |
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