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元素檢測(cè)用iCAP PRO ICP-OES，“鈦”靠譜！

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說(shuō)的是什么？？？

鈦！

金屬鈦和鈦合金因比重小、比強(qiáng)度高、韌性好、抗疲勞、耐腐蝕、導(dǎo)熱系數(shù)低、高低溫度耐受性能好、急冷急熱條件下應(yīng)力小等眾多優(yōu)點(diǎn)，近年來(lái)在各個(gè)領(lǐng)域應(yīng)用越來(lái)越廣泛。

航空航天：用在火箭、人造衛(wèi)星等部件；

化工：用作防腐管材等；

海洋工程：用作管道管件等；

醫(yī)療：用作手術(shù)器械，人工關(guān)節(jié)等；

生活中：鈦合金眼鏡框、羽毛球拍、魚(yú)竿等；

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

為了控制產(chǎn)品性能和產(chǎn)品質(zhì)量，需嚴(yán)格控制其中雜質(zhì)元素的含量以及生產(chǎn)工藝中主要元素配比等，所以要對(duì)主要元素和雜質(zhì)元素進(jìn)行檢測(cè)。

對(duì)鈦產(chǎn)業(yè)鏈而言，需要對(duì)原材料、中間物和產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)以控制產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。對(duì)于金紅石、四氯化鈦、海綿鈦和鈦合金的測(cè)試要求與相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)包括如下：

現(xiàn)存鈦金屬相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)中， 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法（ICP-OES）為主要檢測(cè)方法。參考相關(guān)行標(biāo)和國(guó)標(biāo)的前處理方法，賽默飛應(yīng)用工程師采用今年新品Thermo Scientific™ iCAP™ PRO ICP-OES針對(duì)金紅石，四氯化鈦以及鈦合金樣品進(jìn)行加標(biāo)回收和長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試，以評(píng)估儀器對(duì)樣品基體干擾的消除能力和長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)的穩(wěn)定性。

結(jié)果表明iCAP PRO ICP-OES可對(duì)含鈦基體中高低含量的多元素進(jìn)行一次性快速、準(zhǔn)確的測(cè)量。

Thermo Scientific™ iCAP™ PRO ICP-OES

緊湊精密恒溫的光學(xué)系統(tǒng)：在波長(zhǎng)200nm處光學(xué)分辨率小于7pm，確保卓yue的檢出限，可快速準(zhǔn)確的對(duì)復(fù)雜樣品進(jìn)行簡(jiǎn)單分析

全新400萬(wàn)像素CID檢測(cè)器：2MHz高速讀取數(shù)據(jù)，確保zui佳信噪比，擁有9個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍，分析速度提高30%-40%

智能Qtegra軟件：入門(mén)級(jí)技術(shù)人員也能快速上手，智能監(jiān)控分析物并直接提供分析結(jié)果，軟件符合21 CFR法規(guī)

*的炬室設(shè)計(jì)：擁有方便拆卸的POP石英窗，易于觀察和維護(hù)，垂直炬管與*的等離子接口結(jié)合，可獲得超高耐用性

插拔式進(jìn)樣系統(tǒng)：快速安裝和維護(hù)

方法檢出限和方法定量限

金紅石的標(biāo)曲采用二氧化鈦基體匹配法測(cè)定，樣品參考標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行前處理。

表1-1 金紅石分析元素方法檢出限與方法定量限

四氯化鈦的標(biāo)曲采用標(biāo)準(zhǔn)加入法測(cè)定，樣品參考標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行前處理。

表1-2 四氯化鈦分析元素方法檢出限與方法定量限

鈦合金的標(biāo)曲采用金屬鈦基體匹配法測(cè)定，樣品參考標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行前處理。

表1-3 鈦合金分析元素方法檢出限與方法定量限

結(jié)果數(shù)據(jù)

金紅石樣品加標(biāo)回收率在89.7%-100.5%之間。

金紅石加標(biāo)回收率

（點(diǎn)擊查看大圖）

四氯化鈦樣品加標(biāo)回收率在91.0%-103.0%之間。

四氯化鈦加標(biāo)回收率

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鈦合金樣品1h穩(wěn)定性RSD均在1%以?xún)?nèi)。

鈦合金1h穩(wěn)定性（鹽酸-氫氟suan-硝酸）

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鈦合金1h穩(wěn)定性（硫酸-氫氟suan-硝酸）

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iCAP PRO ICP-OES優(yōu)勢(shì)：

Thermo Scientific™ iCAP™ PRO ICP-OES具有優(yōu)異光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，全新400萬(wàn)像素CID檢測(cè)器，可用光譜級(jí)次范圍高，可用譜線50000多條，可有效解決復(fù)雜基體光譜背景的干擾問(wèn)題。

通過(guò)優(yōu)化儀器參數(shù)條件、選擇合理的分析譜線、優(yōu)化背景扣除和數(shù)據(jù)積分像素點(diǎn)位置，采取標(biāo)準(zhǔn)曲線法和標(biāo)準(zhǔn)加入法的測(cè)量方式，可以很好的滿足含鈦基體樣品中高低含量元素的檢測(cè)需求。

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