當前位置:北京中慧天誠科技有限公司>>儀器儀表>>其它儀器儀表>> KDKLT-1B高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(生產(chǎn)用)
便攜式硫化氫檢測報警儀(0~1000ppm) 型號:GJT1/H2S
高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(生產(chǎn)用) 型號:KDKLT-1B | 貨號:ZH8203 |
產(chǎn)品簡介: τ:10~6000μs,ρ>3Ω·cm ,配數(shù)字示波器 用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量,除需要有一個測量平面外,對樣塊體形嚴格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)的重要檢測項目。 設(shè)備組成 1.光脈沖發(fā)生裝置: 重復(fù)頻率>25次/s 脈 寬>60μs 光脈沖關(guān)斷時間<1μs 紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶) 脈沖電流:5A~20A 如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源 2.高頻源: 頻 率:30MHz低輸出阻抗 輸出功率>1W 放大器和檢波器: 頻率響應(yīng):2Hz~2MHz 3.配用示波器: 配用示波器:頻帶寬度不低于10MHz,Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。 測量范圍: 可測硅單晶的電阻率范圍:ρ≥0.1Ω·㎝(歐姆·厘米) 壽命值的測量范圍:5~6000μs(微秒) |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責(zé),儀表網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。