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當(dāng)前位置:北京中慧天誠科技有限公司>>電阻/電磁/紙張橡塑檢測儀>>電阻率測定儀>> NXTR-1A/1B薄膜方塊電阻測試儀 型號:NXTR-1A/1B

薄膜方塊電阻測試儀 型號:NXTR-1A/1B

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號NXTR-1A/1B

品       牌中慧

廠商性質(zhì)其他

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2017-06-08 13:20:30瀏覽次數(shù):246次

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薄膜方塊電阻測試儀主來測量硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層、導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。它由電氣測量部份(簡稱:主機(jī))、測試架、四探針頭及測量軟件組成
薄膜方塊電阻測試儀 
型號:NXTR-1A/1B
貨號:ZH8860
產(chǎn):
薄膜方塊電阻測試儀主來測量硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層、導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。它由電氣測量部份(簡稱:主機(jī))、測試架、四探針頭及測量軟件組成 
使用范圍
適用于西門子法、硅烷法等生產(chǎn)多晶硅料的企業(yè)
適用于物理提生產(chǎn)多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)
適用于光伏拉晶鑄錠及 IC 半導(dǎo)體器件企業(yè)
適用于科研、高等院校及需要量程測量電阻率的企業(yè)
產(chǎn)品特點(diǎn)
可測方塊電阻:適合檢測硅芯,檢磷棒,檢硼棒,籽晶等圓柱晶體硅
適用于西門子法、硅烷法等生產(chǎn)多晶硅料的企業(yè)
適用于物理提生產(chǎn)多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)
適用于光伏拉晶鑄錠及 IC 半導(dǎo)體器件企業(yè)
適用于科研、高等院校及需要量程測量電阻率的企業(yè)
測試量程大,電阻率測試儀
主機(jī)配置了“小游移四探針頭”了一起數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性 
儀器消除了珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等負(fù)效應(yīng)的影響,因此測試精度提高
測量精度高,除了具有厚度修正功能外、還有溫度修正、圓片直徑修正等功能
特的設(shè)計(jì)能消除測量引線和接觸電阻產(chǎn)生的誤差,   測量的高精度和寬的量程范圍
雙數(shù)字表結(jié)構(gòu)使測量,操作簡便
具有的測試數(shù)據(jù)查詢及打印功能
測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)換向測量、求平均值、Z大值、Z小值、平均百分變化率等
四探針頭采用進(jìn)口紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu),使探針的游移率減小,測量重復(fù)性提高
采用進(jìn)口元器件,留有大的系數(shù),提高了測試儀的性和使用壽命
測量電流采用高度穩(wěn)定的恒流源(之五精度),不受氣候條件的影響
具有正測反測的功能,測試結(jié)果的準(zhǔn)確性
具有抗強(qiáng)磁場和抗高頻設(shè)備的性能
測量范圍
10-5 ------1.9*105  Ω?cm
10-4------1.9*104  Ω?cm
可測硅棒尺寸: Z大長度300mm;直徑20mm(按用戶要求改)
輸出電流:DC0.001-100mA  五檔連續(xù)可調(diào)   測量范圍:0-199.99mV 
靈 敏 度: 10μA
輸入阻抗:1000ΩM
電阻測量誤差:檔均低于±0.05%
供電電源:AC 220V ±10% 50/60Hz.
推薦使用環(huán)境:溫度:23±2℃   相對溫度:≤65%

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