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當(dāng)前位置:北京中慧天誠科技有限公司>>儀器儀表>>其它儀器儀表>> GDW3-LT-1A高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀(基本型型號(hào):GDW3-LT-1A
程控三相標(biāo)準(zhǔn)功率源 型號(hào):BFC-301 電力表
便攜式硫化氫檢測(cè)報(bào)警儀(0~1000ppm) 型號(hào):GJT1/H2S
式氧氣檢測(cè)報(bào)警儀 型號(hào):GJT1/CY-30
1、 用途 用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,除需要有一個(gè)測(cè)量平面外,對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求,可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶的重要檢測(cè)項(xiàng)目。 2、 設(shè)備組成 2.1、光脈沖發(fā)生裝置 重復(fù)頻率>25次/s 脈寬>60μs 光脈沖關(guān)斷時(shí)間<0.2-1μs 紅外光源波長:1.06~1.09μm(測(cè)量硅單晶) 脈沖電流:5A~20A 如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長的光源 2.2、高頻源 頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出功率>1W 2.3、放大器和檢波器 頻率響應(yīng):2Hz~2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器:頻帶寬度不低于40MHz,Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。 3、測(cè)量范圍 LT-1可測(cè)硅單晶的電阻率范圍:ρ≥3Ω·㎝(歐姆·厘米),壽命值的測(cè)量范圍:5~6000μs | ![]() |
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