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IKEIDARIKA池田理化X射線CT SKYSCAN 1275

SKYSCAN 1272 CMOS,SKYSCAN 1275,SKYSCAN 2214,SKYSCAN 1273,nano3DX

高分辨率臺(tái)式X射線CT SKYSCAN 1272 CMOS版是一個(gè)突破性的系統(tǒng),在緊湊的桌面外殼中實(shí)現(xiàn)了高分析性能,能夠觀察小至約2μm的結(jié)構(gòu)。此外,可以選擇安裝16位自動(dòng)進(jìn)樣器,這極大地有助于實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化和高通量。滿足食品中污染物分析、藥物成分密度分布、金屬零件微裂紋檢測(cè)等對(duì)分辨率要求高的領(lǐng)域的無損分析需求。

臺(tái)式高通量X射線CT(三維X射線顯微鏡)SKYSCAN 1275特征:可實(shí)現(xiàn)最短掃描時(shí)間約80秒的高速處理；使用Push-Button-CT進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量；高靈敏度平板探測(cè)器；樣品尺寸：長(zhǎng)200mm,直徑96mm；掃描尺寸：長(zhǎng)120mm,直徑96mm。

SKYSCAN 2214是一款多功能設(shè)備,可用于超高分辨率掃描和大樣本尺寸。我們滿足廣泛領(lǐng)域的需求,包括地質(zhì)學(xué)、復(fù)合材料、電池和電子元件?？裳b載直徑300mm的樣品,直徑12mm以下的樣品實(shí)現(xiàn)像素分辨率500nm以下的高分辨率測(cè)量。X射線源配備了開放式金剛石窗口納米焦點(diǎn)X射線源,可實(shí)現(xiàn)有助于高分辨率的小焦點(diǎn)直徑。最多可安裝4種X射線檢測(cè)器設(shè)計(jì)靈活度高,可根據(jù)用途進(jìn)行選擇。

用于大型樣品的臺(tái)式 X 射線 CT(3D X射線顯微鏡)SKYSCAN 1273特征:高能同時(shí)節(jié)省空間；封裝微焦點(diǎn)X射線源；自動(dòng)8過濾器更換器；掃描尺寸:75mm 直徑。

高分辨率3DX射線顯微鏡nano3DX:通過組合理學(xué)高亮度X射線發(fā)生器和高分辨率X射線照相機(jī),可以觀察亞微米區(qū)域的高分辨率3DX射線顯微鏡。與以往的X射線顯微鏡相比,提高了密度分辨率,可實(shí)現(xiàn)"高2D/3D空間分辨率"、"高對(duì)比度"、"寬成像區(qū)域"的觀察。該設(shè)備可用于生物材料、高分子材料、復(fù)合材料、輕金屬等微觀結(jié)構(gòu)的解析和定量測(cè)量。