一：產(chǎn)品簡(jiǎn)介

        隔離開(kāi)關(guān)是電力系統(tǒng)中使用量應(yīng)用范圍廣泛的高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備。由于戶(hù)外隔離開(kāi)關(guān)是*暴露在大氣環(huán)境中工作、受環(huán)境氣候條件影響直接嚴(yán)重的電氣設(shè)備，它的運(yùn)行條件比較惡劣，容易產(chǎn)生機(jī)械或電氣方面的故障。尤其是觸指接觸部分容易受雨水、灰塵及有害氣體的侵襲產(chǎn)生接觸不良而導(dǎo)致發(fā)熱，提供觸指壓力的彈簧會(huì)因發(fā)熱而退火使壓力降低，這樣更導(dǎo)致觸指發(fā)熱形成惡性循環(huán)燒壞觸指釀成事故。在檢修時(shí)往往只注意更換明顯失效和斷裂的彈簧，而對(duì)那些壓力降低的彈簧無(wú)法判斷與更換，這樣在再次運(yùn)行中，每個(gè)觸指電流的分布會(huì)因壓力不同而不同，差別越大電流分布越不均勻，長(zhǎng)期運(yùn)行后就會(huì)發(fā)生接觸不良而過(guò)熱。觸指的發(fā)熱會(huì)惡性循環(huán)，一個(gè)觸指接觸不好就會(huì)漫延整個(gè)觸頭接觸不良。同時(shí)有不少隔離開(kāi)關(guān)的觸指壓力可調(diào)，如果在檢修時(shí)調(diào)整壓力不夠或每個(gè)觸指的調(diào)整壓力有差別同樣會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

       針對(duì)目前發(fā)供電系統(tǒng)的檢修現(xiàn)狀，我公司自行開(kāi)發(fā)了HDGK-III高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀，它只要將測(cè)試鉗模擬觸頭的傳感器在每對(duì)觸指接觸位置張開(kāi)一下，就能顯示出觸指此時(shí)的接觸壓力并記憶。有效解決了測(cè)量觸指壓力的一大難題。HDGK-III高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀也可用于隔離開(kāi)關(guān)制造廠對(duì)觸指壓力的檢驗(yàn)；改變壓力傳感器的形狀也能測(cè)量斷路器的觸指壓力。

二：技術(shù)指標(biāo)

      1.工作環(huán)境：

             -10～40℃，≤80%RH  大氣壓力  86～106kpa

      2. 電源電壓：

             機(jī)內(nèi)鋰電池：≤20 W(優(yōu)選) AC220V±10% 50Hz±10% 

      3. 測(cè)量范圍：

             ≤1000 N   誤差：≤1％讀數(shù)±1

      4.測(cè)量直徑（觸指開(kāi)距）：

             5.5mm～90mm 大于90mm（可定制）

      5.內(nèi)置鋰電池，電源工作時(shí)間：

             ≥6小時(shí)（可定制）。

      6.充電方式：

             充電器接面板鋰電池充電接口充電；

      7.傳感器信號(hào)線長(zhǎng)度：

             10m

      8.絕緣電阻  

            ＞2MΩ

      9. 介電強(qiáng)度  

           電源對(duì)機(jī)殼工頻1.5KV耐壓1分鐘，無(wú)閃絡(luò)與飛弧。

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當(dāng)試驗(yàn)回路中ω0L =1ω0C(C包括CX、C1、C2)時(shí),試驗(yàn)回路產(chǎn)生串聯(lián)諧振,此時(shí)能在試品上產(chǎn)生較高的試驗(yàn)電壓(試驗(yàn)電壓高低與回路品質(zhì)因數(shù)有關(guān)),如果電容C較大,試驗(yàn)回路電流也較大,通過(guò)電抗器的電流也較大,這時(shí)試驗(yàn)設(shè)備一般難以滿(mǎn)足現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)需要;通常該試驗(yàn)接線僅適用于被試品電容量較小而試驗(yàn)電壓較高,試驗(yàn)變壓器能滿(mǎn)足試驗(yàn)容量要求而不能滿(mǎn)足試驗(yàn)電壓要求的情況。

對(duì)于電力電纜來(lái)說(shuō),被試設(shè)備的電容量C是固定的,要使試驗(yàn)回路產(chǎn)生諧振就要改變?cè)囼?yàn)回路的電感L或頻率ω,即:ω0=1 LC或L =1ω02C; 采用改變電感的方法來(lái)滿(mǎn)足串聯(lián)諧振需采用可調(diào)電抗器,但限于運(yùn)輸和在現(xiàn)場(chǎng)搬動(dòng),電抗器的體積和重量不能做得很大,因此可調(diào)電抗器的調(diào)節(jié)范圍是有限的。所以在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)采用調(diào)感的方法往往由于電抗器的范圍有限而不能滿(mǎn)足試驗(yàn)要求。

另一種方法是采用調(diào)頻的方法,即當(dāng)電抗器和電容固定時(shí)通過(guò)改變?cè)囼?yàn)電源頻率來(lái)使ω0L = 1 ω0C來(lái)達(dá)到所需的電壓,但這時(shí)需要一套調(diào)頻電源裝置。

 2·2并聯(lián)諧振

     如果被試品的試驗(yàn)電壓較低而試品容量較大時(shí),一般可采用并聯(lián)諧振方法,見(jiàn)圖2所示。

綿陽(yáng)市高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀訂做綿陽(yáng)市高壓隔離開(kāi)關(guān)觸指壓力測(cè)試儀訂做

HDT變頻串聯(lián)諧振并聯(lián)諧振的等效電路

當(dāng)試驗(yàn)回路中ω0L=1ω0C(C包括CX、C1、C2) 時(shí),試驗(yàn)回路產(chǎn)生并聯(lián)諧振,此時(shí)試品電壓等于電抗器電壓也等于升壓變壓器高壓側(cè)電壓。由于電抗器的補(bǔ)償作用,變壓器理論上僅提供回路阻性電流,可以大大降低對(duì)試驗(yàn)變壓器的容量要求。因此該試驗(yàn)回路適用于試品電容量大,而電壓較低的情況。低電壓的電抗器一般容易制作,試驗(yàn)時(shí)可采用幾個(gè)低電壓電抗器并聯(lián)的方法或利用可調(diào)電抗器改變電感的方法來(lái)滿(mǎn)足并聯(lián)諧振要求。如果有一套調(diào)頻電源裝置的話,也可采用改變?cè)囼?yàn)電源頻率的方法,使回路滿(mǎn)足試驗(yàn)要求。

 2·3串-并聯(lián)法

當(dāng)試驗(yàn)電壓較高、被試品電容量較大時(shí),采用上述兩種方法都難以滿(mǎn)足試驗(yàn)要求,主要是試驗(yàn)設(shè)備難以滿(mǎn)足要求:一是合適的高電壓大容量的電抗器一般單位