SM-114LW 表盤(pán)式鏡片厚度測(cè)量?jī)x日本TECLCOK得樂(lè)

型號(hào)：SM-114LW

測(cè)量范圍：0?10mm

最小刻度：0.01mm

測(cè)頭：上、下均為3.2mm球形測(cè)頭

主要用于測(cè)量鏡片凹凸處的最大厚度

表盤(pán)式厚度表 測(cè)頭：

表盤(pán)式厚度表 規(guī)格：

表盤(pán)式厚度表  別名：

表盤(pán)式厚度計(jì)、手握式厚度表、厚薄表、測(cè)厚計(jì)

表盤(pán)式厚度表  產(chǎn)品說(shuō)明：

小刻度有0.01和0.001兩種。

測(cè)量厚度可達(dá)50mm

部分量表采用陶瓷測(cè)頭，與工作接觸面為陶瓷，可延長(zhǎng)使用壽命。另外，還有FE（材質(zhì)為加硬SK4）和AT（材質(zhì)為特殊鍍層）可供選擇。

根據(jù)測(cè)頭的形狀不同，可分為標(biāo)準(zhǔn)型和其它型，

標(biāo)準(zhǔn)型的測(cè)量力不超過(guò)2.5N，同時(shí)也可選用低測(cè)量力0.4N

SM-114LW 金屬圓測(cè)頭，測(cè)頭尺寸￠3.2mm，用于測(cè)量金屬片及不規(guī)則產(chǎn)品

表盤(pán)式厚度表  用途：

應(yīng)用廣泛，可測(cè)量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。

SM-114LW 表盤(pán)式鏡片厚度測(cè)量?jī)x日本TECLCOK得樂(lè)

表盤(pán)式厚度表  實(shí)物照片：