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膜厚計,美國DeFelsko

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號PosiTest DFT-F

品       牌

廠商性質代理商

所  在  地深圳市

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更新時間:2015-09-24 22:42:16瀏覽次數(shù):1505次

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采用磁性及渦流原理測量磁性基體上非磁性涂層的厚度或有色金屬基體上不導電涂層的厚度只需一個內置測頭。為無損測量,快速重復測量,精度為讀數(shù)的3,量程0-1000微米

膜厚 PosiTest DFT- Combo DeFelsko

采用磁性及渦流原理測量磁性基體上非磁性涂層的厚度或有色金屬基體上不導電涂層的厚度只需一個內置測頭。為無損測量,快速重復測量,精度為讀數(shù)的3,量程0-1000微米;自動校對,自動復位到出廠時設置,公英制轉換等功能。測頭耐酸、耐油、耐有機溶液及灰塵;儀器重70克;外形尺寸100X38X23mm;附有標準片及皮包,中、英文操作說明書,堿性電池。符合ISO2178/2360/2808ASTM B244 、B499、B659、等標準。

 型號:DFT-F 磁性式:

      磁性金屬底才用

     DFT-c 兩用型:

      磁性金屬/非磁性金屬底材共用,自動判定。

特點:

輕便、簡單、快速測量

免校正機能,可快速重復測定

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