HC220超聲波涂層測厚儀
HC220超聲波涂層測厚儀是渦流便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)*的一起。
一、HC220主要特點
1.采用了渦流測厚方法，可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
2.具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單詞測量方式（SINGLE）;
3.具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（App1）；
4.設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO.）、標準偏差（S.DEV）；
5.可采用兩種方法對一起進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正;
6.具有存貯功能：可存貯500個測量值；
7.具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，可也刪除存貯區(qū)內的所有數據，以便進行新的測量；
8.可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析；
9.具有打印功能：可打印測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖；
10.具有與PC機通訊的同能：可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC機，以便對數據進行進一步處理；
11.具有電源欠壓指示功能；
12.操作工程有蜂鳴聲提示；
13.具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；
14.設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
二、HC220規(guī)格參數
測頭類型 :N
工作原理:渦流
測量范圍(µm):0~1250
銅上鍍鉻(0~40)
低限分辨率(µm):0.1
一點校準(µm):±(3%H+1.5)
二點校準(µm):±[(1~3%)H+1.5]
zui小曲率半徑(µm):凸3
zui小面值的直徑(mm):Φ5
基體臨界厚度(mm):0.3
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