深圳市智檢系統(tǒng)有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
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所 在 地深圳市
聯(lián)系方式：劉小姐查看聯(lián)系方式
更新時間：2017-10-24 17:29:02瀏覽次數(shù)：270次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 加工定制 | 否 |
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品牌：日本NoiseKen
產(chǎn)品名稱：日本NoiseKen半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器ESS-6002
產(chǎn)品型號：ESS-6002
產(chǎn)品簡介：考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。
日本NoiseKen半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器ESS-6002說明
概要
品牌：日本NoiseKen
產(chǎn)品名稱：日本NoiseKen半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器ESS-6002
產(chǎn)品型號：ESS-6002
產(chǎn)品簡介：考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。
規(guī)格：
特征:
- 考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。
- 半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動作的現(xiàn)象。
- 對于此靜電破壞試驗(yàn)，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實(shí)行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗(yàn)。還有，可用選件中的精密型支架可對超細(xì)密間- - 距元件做半自動的試驗(yàn)。
- 用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗(yàn)。
- 精密型支架
對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)
| 人體模型試驗(yàn) (HBM) | 機(jī)械模型試驗(yàn) (MM) |
| AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 | AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003 |
| ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 | ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999 |
| IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002 | IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002 |
| IEC 60749-26 Ed.1.0 2003 | IEC 60749-27 Ed.1.0 2003 |
| JEDEC JESD22-A114E Jan 2007 | JEDEC JESD22-A115A Oct.1997 |
| JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 | JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 |
| MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989 |
規(guī)格半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器 (ESS-6002/ESS-6008)
項(xiàng)目 | 功能/性能 | |
| ESS-6002 | ESS-6008 | |
| 輸出電壓 | 10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進(jìn) | 100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進(jìn) |
| 輸出極性 | 正或負(fù) | |
| 重復(fù)周期 | 0.3～99s±10％ 到10s為止0.1s步進(jìn) 10s以后1s步進(jìn) | |
| 放電次數(shù) | 1～99次/連續(xù) | |
| Automatic output voltage ramping | Available | |
| 尺寸 | （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分） | |
| 尺寸 | 約6kg | |
簡易型探針臺 <18-00075A>
| 項(xiàng)目 | 功能/性能 |
| 尺寸/重量（探針臺主機(jī)） | (W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg |
| 尺寸/重量（簡易放電板） | (W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/約200g |
| 鉗口尺寸 | 110mm |
| 其他 | POM造V型部件1個 標(biāo)準(zhǔn)附件 |
半自動精密型探針臺 <18-00076A>
由于半自動精密型探針臺的zui小分辨率為0.01mm，所以可以簡單地對毫米間距和英寸間距等極小間距的半導(dǎo)體進(jìn)行試驗(yàn)
| 項(xiàng)目 | 功能/性能 |
| 尺寸/重量 | (W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg |
| 可對應(yīng)IC | zui大尺寸：40mm角 zui小導(dǎo)線間距：0.4mm |
| X軸 | 手動 移動量：20mm ×燕尾槽、進(jìn)給螺桿 |
| Y軸 | 電動（zui大速度：13mm/s）移動量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步進(jìn)馬達(dá)&滾珠螺桿 |
| θ軸 | 手動 移動量：360° |
| Z axis | 手動 移動量：20mm *內(nèi)置彈簧下壓式 |
| 回原點(diǎn) | 手動 |
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