* 非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接觸方塊電阻測試儀 優(yōu)惠

型號：LDX-JXNR-1

一、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.非接觸測量硅半導(dǎo)體材料的電阻率

2.適合測試硅片，不損傷樣品表面。

3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、打印

4.軟件界面直觀友好

5.樣片校準(zhǔn)快速、方便

二、推薦工作條件

1． 溫度：23±2℃

2． 濕度：60%~70%

3． 無強(qiáng)光照、無強(qiáng)磁場、不與高頻設(shè)備鄰近

三、參數(shù)指標(biāo)

1．整機(jī)尺寸：340mm×260mm×150mm

2．電阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝

3．誤差范圍：±5%

4．硅片厚度：適合150-600um厚度