由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應(yīng)用，使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)中進(jìn)入全新的高度。全面革新且一體化的設(shè)計(jì)理念，包括匹配的輔助裝置（跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測(cè)頭），為種類繁多的應(yīng)用提供了的靈活性。高性能的軟件平臺(tái)colin3D能夠在整個(gè)測(cè)量過程中，始終如一地保持高效并始終堅(jiān)持以項(xiàng)目為導(dǎo)向的操作過程。
面向用戶的、人性化的系統(tǒng)設(shè)計(jì)和易于操作的高效數(shù)據(jù)采集
ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設(shè)計(jì)*符合人體工學(xué)原理?？筛鶕?jù)操作者的需求量身定制，保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊的測(cè)頭，該系統(tǒng)非常適合于數(shù)據(jù)捕獲，即使最難以到達(dá)的區(qū)域也不例外。
優(yōu)秀的技術(shù)特性，例如，針對(duì)各種對(duì)象的表面進(jìn)行高動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)采集，而其所具有的迄今不可見的數(shù)據(jù)速率可以達(dá)到的掃描速度并得到精確的測(cè)量結(jié)果。
ZEISS T-SCAN:用手持式激光掃描儀快速、直觀的捕獲三維數(shù)據(jù)
手持式測(cè)頭進(jìn)行快速點(diǎn)測(cè)量
ZEISS T-POINT接觸測(cè)頭快速可靠地測(cè)量所選擇的測(cè)量點(diǎn)，使其成為在物體區(qū)域內(nèi)進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)量的解決方案，如（修剪）邊緣和規(guī)則的幾何形狀。該裝置可與傳統(tǒng)的測(cè)頭一起使用，測(cè)頭更換更加簡(jiǎn)單、快速。
手持式測(cè)頭ZEISS T-POINT - 理想的便攜式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)， 便于單點(diǎn)測(cè)量
動(dòng)態(tài)參考
即使在移動(dòng)的物體上也能得到高精密的三維數(shù)據(jù)記錄，通過采用動(dòng)態(tài)參考功能，在惡劣的環(huán)境條件下可以獨(dú)立執(zhí)行測(cè)量工作，如振動(dòng)（生產(chǎn)環(huán)境中，例如沖壓車間或
加工部件：對(duì)移動(dòng)車門的密封進(jìn)行測(cè)量）。
通用軟件接口
從數(shù)據(jù)采集到數(shù)據(jù)處理，至數(shù)據(jù)比較 - ZEISS T-SCAN系統(tǒng)可以通過眾多直接的實(shí)時(shí)接口進(jìn)行控制。因此，可以輕松集成到現(xiàn)有的工藝流程中。
ZEISS colin3D軟件支持高效的工作流程
用于不同的測(cè)量體積的光學(xué)跟蹤系統(tǒng)
從小型到大型的物體 - 系統(tǒng)配置“CS+”和“LV”，為您的個(gè)人測(cè)量應(yīng)用提供理想解決方案。
ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現(xiàn)的靈活性
ZEISS T-TRACK CS +光學(xué)跟蹤系統(tǒng)與所有其他系統(tǒng)組件進(jìn)行優(yōu)化匹配，因此開辟了廣泛的測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域。
*的數(shù)據(jù)處理速率使測(cè)量具有的速度，有利于限度地減少物體掃描過程的時(shí)間。
ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀
通過采用創(chuàng)新型掃描和跟蹤相結(jié)合的*大范圍測(cè)量，您將在光學(xué)三維數(shù)字化中獲得全新的視角。
現(xiàn)在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數(shù)據(jù)-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達(dá)35立方米的跟蹤范圍，為您進(jìn)行有效的測(cè)量處理提供可能的運(yùn)動(dòng)自由。
應(yīng)用范圍廣泛
質(zhì)量控制/檢驗(yàn)
- 比較CAD數(shù)據(jù)
- 邊界/邊緣提?。ㄢk金件）
- 與生產(chǎn)有關(guān)的檢查
模具和模具制造
- 刀具重建
- 用于生成銑削刀具路徑的掃描數(shù)據(jù)
- 刀具釋放時(shí)的實(shí)際3D數(shù)據(jù)文檔
- 復(fù)雜焊接結(jié)構(gòu)的檢驗(yàn)
- 設(shè)置儀表和安裝夾具
快速制造
- 三維數(shù)據(jù)掃描用于快速成型
逆向工程
- 高度復(fù)雜幾何形狀測(cè)量的逆向工程
設(shè)計(jì)
- 設(shè)計(jì)模型的掃描，用于進(jìn)一步處理CAD數(shù)據(jù)、文檔
- 特征線的捕獲
- 基面（對(duì)齊）的快速掃描
復(fù)雜組件的動(dòng)態(tài)捕獲，例如裝夾過程
考古學(xué)、藝術(shù)/歷史文物的掃描
醫(yī)療技術(shù)應(yīng)用（動(dòng)作捕捉等）
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