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KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測試儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

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更新時間：2016-03-29 11:26:20瀏覽次數(shù)：54次

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產(chǎn)品簡介

KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測試儀
配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。

詳細介紹

 

KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測試儀

KDB-2B為四探針法測量金屬薄膜的方塊電阻，該方法操作簡單，測量精確。

儀器特點如下：

1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。

數(shù)字電壓表量程：0—19.999mV  靈敏度：1μV  輸入阻抗：1000ΜΩ

 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度) ；                   

2、方塊電阻測量范圍：1×10-5～1.9Ω/□；                     

3、電流量程分兩檔：100mA和1000mA。                          

KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測試儀

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