激光光束分析儀
LS-2000型 BE-410型
LS-2000型
主要功能：
可以獲取和分析激光光斑光強的二維分布
獲取激光光斑光強的三維分布圖（任意方位、俯仰角）
光斑直徑（按半高全寬、1/e2、刀口法3種定義）
高斯擬合 坐標軸旋轉選取光斑主軸
連續(xù)采集 脈沖激光的軟觸發(fā)
圖像采集卡zui多可接3路圖像探測器， 軟件亦可對來自不同探測器的信號方便切換、獨立處理
系統(tǒng)構成
1. 基本系統(tǒng)： 圖象采集卡，用于采集來自光圖象探測器的模擬信號，將其變?yōu)镻C機可接受的數字信號后送入PC機處理；
軟件包：由“實時探測"，“存貯功能"，“分析測試"等幾部分組成
2. 圖象探測器： 標準配置：1/2英寸CCD（電荷耦合器件）探測器，光譜響應為可見及近紅外波段（360nm－1100nm），涵蓋大多數常用激光器的波長 。圖像敏感面積為 6.4 x 4.8 mm2。
3.光學暗箱 :光學暗箱提供分光、衰減系統(tǒng)，使被測激光束無畸變地衰減到
CCD的*響應區(qū)（線性工作區(qū)），并屏蔽來自多方面的雜散光。
分光部分由石英楔形分束器、楔形反射器構成；衰減部分由固定衰減片組、連續(xù)衰減器構成。
主 要 特 點:
LS2000激光光束分析儀是基于PC機的“裝配式"系統(tǒng)，可根據用戶的需求及自有資源情況靈活配置。硬件可靠性高
屏幕界面為英文，配有中文說明書。
BE-410型
主要功能
——獲取、分析激光光斑光強的二維分布
—— 獲取激光光斑光強的三維分布圖（任意方位、俯仰角）
——可測量X、Y方向的光斑直徑（半高全寬FWHM直徑及1/e2定義的直徑）
——高斯擬合 可通過旋轉坐標軸選取光斑主軸
——可采集、分析連續(xù)、各種重復頻率、單次脈沖激光的光斑
——可對平頂光斑進行分析，可測發(fā)散角
——可保存全部有價值的圖像和數據
——數據庫備有典型模擬光斑，供練習時調用
——可于測量光斑的同時測量激光功率/能量（需備有激光功率/能量計，本系統(tǒng)不含）
系統(tǒng)構成:
BE-410激光光束分析儀采用數字CMOS圖像探測器（1/1.8英寸，圖像敏感面積為 6.6 x 5.32 mm2，像素1280X1024）， 無須圖像采集卡，可配用筆記本電腦或臺式電腦工作，中文界面。
CMOS裝在光學暗箱內，可以屏蔽來自各方面的雜散光。光學暗箱內提供分光、衰減系統(tǒng)，結合軟件功能使被測激光束無畸變地衰減到CMOS的*響應區(qū)（線性工作區(qū)）。
光學暗箱可沿光學導軌滑動，可測發(fā)散角測量等參數。光學暗箱還可相對導軌做橫向和垂直方向的位置微調，以便于對光調節(jié)。
激光光束分析儀LS-2000型/BE-410型
激光光束分析儀LS-2000型/BE-410型
