多通道電化學(xué)工作站CS354
CS354多通道電化學(xué)工作站基于基于常規(guī)單通道系列CS350型發(fā)展而來(lái)，利用CS系列電化學(xué)工作站*的“定時(shí)啟動(dòng)測(cè)量”功能，通過(guò)繼電器進(jìn)行通道切換，并由定時(shí)器控制進(jìn)行分時(shí)測(cè)量。
按照設(shè)定順序，四個(gè)通道依次進(jìn)行工作，實(shí)現(xiàn)多電解池體系自動(dòng)循環(huán)測(cè)試，以提高工作效率。
產(chǎn)品具體應(yīng)用于：
1）電合成、電沉積（電鍍）、陽(yáng)極氧化等反應(yīng)機(jī)理研究；
2）電分析化學(xué)研究；
3）新型能源材料（鋰離子電池、太陽(yáng)能電池、燃料動(dòng)力電池和超級(jí)電容器等）、*功能材料以及傳感器的性能研究；
4）金屬材料在不同環(huán)境（水/混凝土/土壤等）中的腐蝕研究與耐蝕性評(píng)價(jià)；
5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評(píng)價(jià)。
重點(diǎn)用于開(kāi)展緩蝕劑篩選、涂層測(cè)試、電偶測(cè)試、腐蝕檢測(cè)等電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。
硬件參數(shù)指標(biāo)
測(cè)量通道：4個(gè) 恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：<10pA |
電位上升時(shí)間：＜1μS(<10mA),＜10μS(<2A) | 電流量程：2A～200nA, 共8檔 |
參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | zui大輸出電流：2.0A |
槽壓輸出：±21V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
SWV頻率：0.001～100KHz | CV的zui小電位增量：0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置 |
DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) | |
電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器 |
頻率響應(yīng)：10μHz～500KHz | 交流信號(hào)幅值：1mV～2500mV |
頻率度：0.005% | 信號(hào)分辨率：0.1mV RMS |
直流偏壓：-10V～+10V | DDS輸出阻抗：50Ω |
波形：正弦波，三角波，方波 | 正弦波失真率：<1% |
掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降 | |
信號(hào)分析器 |
zui大積分時(shí)間：106個(gè)循環(huán)或者105S | 測(cè)量時(shí)間延遲：0～105秒 |
zui小積分時(shí)間：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的zui長(zhǎng)時(shí)間 |
直流偏置補(bǔ)償 |
電位補(bǔ)償范圍：-10V～+10V | 電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A |
帶寬調(diào)整：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8級(jí)可調(diào) | |
穩(wěn)態(tài)極化
開(kāi)路電位測(cè)量（OCP）、恒電位極化（i-t曲線）、恒電流極化、動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線）、動(dòng)電流掃描
（DGP）
暫態(tài)極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍（VSTEP）、恒電流階躍（ISTEP）
計(jì)時(shí)分析
計(jì)時(shí)電位法（CP）、計(jì)時(shí)電流法（CA）、計(jì)時(shí)電量法（CC）
伏安分析
線性掃描伏安法（LSV）、線性循環(huán)伏安法（CV）、階梯循環(huán)伏安法（SCV）、方波伏安法（SWV）、差分脈
沖伏安法（DPV）、常規(guī)脈沖伏安法（NPV）、常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）、交流伏安法（ACV）、二次
諧波交流伏安（SHACV）
溶出伏安
恒電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安
交流阻抗
電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描、電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描、電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-
Schottky曲線）
腐蝕測(cè)量
循環(huán)極化曲線（CPP）、線性極化曲線（LPR）、動(dòng)電位再活化法（EPR)、電化學(xué)噪聲（EN）、電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）、氫擴(kuò)散測(cè)試
（HDT，氫擴(kuò)散測(cè)試中主動(dòng)式充氫需要另行配置CS1001A精密恒流源使用）
電池測(cè)試
電池充放電測(cè)試、恒電流充放電
光電測(cè)量
電致調(diào)光測(cè)量、光譜儀測(cè)量（光電測(cè)量功能用戶可選）
擴(kuò)展測(cè)量
盤環(huán)電極測(cè)試、數(shù)字記錄儀、波形發(fā)生器、圓盤電機(jī)控制、其它外設(shè)擴(kuò)展端口（定制）
儀器配置
1) 儀器主機(jī)1臺(tái)
2) CorrTest測(cè)試與分析軟件1套
3) 電解池(含鹽橋和排氣管)4套
4) 鉑金電極、參比電極、工作電極及各4支
5) 模擬電解池1個(gè)
6) 電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7) 電極電纜線4根
8) 屏蔽箱 (選配*)
會(huì)員1.png)