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技術(shù)文章

光學膜層厚度測量控制儀CDNY-03AM

閱讀:87發(fā)布時間:2017-12-6

光學膜層厚度測量控制儀CDNY-03AM

 

                                             

CDNY-03AM是專為光學鍍膜設(shè)計的新一代光學膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù),因而對信號諧波和直流漂移具有*的抑制能力。

主要性能指標及技術(shù)指標

主信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入
輸入量程:0.5mV-500mV
信號頻率范圍:1KHz±5%
本機頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點時源: ≤0.2%/h
參考信號通道:

信號輸入方式:單端交流輸入
輸入幅度:20-700mV
頻率范圍:≥320。


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