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WENGLOR Pick-to-Light光幕 OLEB422C01
產(chǎn)地 | 進口 | 加工定制 | 否 |
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THORLABS雙折射成像系統(tǒng)LCC7201
產(chǎn)品型號:LCC7201
產(chǎn)品介紹
LCC7201工作的波長為633 nm,提供?20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長max. (316 nm),方位角范圍為±90°。此外,還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。
在觀察樣品方面,LCC7201包含我們公司的MLS203P2樣品支架,同時還包含三個樣品支架插入件,分別可以固定?0.5英寸、 ?1英寸和2英寸 x 2英寸的光學元件。MLS203P2在X方向上可以實現(xiàn)手動調(diào)節(jié),適用于比?20 mm視場大的樣品。此外,該系統(tǒng)還兼容Thorlabs的MLS203-1 XY掃描位移臺(提供X軸和Y軸方向的手動調(diào)節(jié)和電動調(diào)節(jié)),升級之后的版本可以掃描更大的樣品。LCC7201的規(guī)格如右表所示。
購買時附帶軟件預先裝好的Windows筆記本電腦。
性能特點
l 內(nèi)置波長為633 nm的光源
l 所測樣品相位延遲為半波長max.(316 nm),方位角范圍為±90°
l ?20 mm的視場
l 完整的成像系統(tǒng)包含軟件和筆記本電腦
l 兼容MLS203-1XY掃描位移臺
選型指南
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)與細節(jié)
可選功能與配件
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品尺寸
產(chǎn)品應用
Thorlabs的LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學術(shù)研究、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證,可以測量晶體和液晶設備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角,非常適合檢測由應力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件,其內(nèi)部沒有相對機械運動,從而在運行過程中非常穩(wěn)定,毫無振動干擾。
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