當(dāng)前位置:山東普創(chuàng)工業(yè)科技有限公司>>技術(shù)文章>>真空衰減法適用于無菌藥品容器完整性測試
真空衰減法微泄漏無損密封測試儀依據(jù)《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標(biāo)準(zhǔn)檢測方法-真空衰減法》 標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)。 專業(yè)適用于各種空的/預(yù)充式注射器、水針及粉針瓶(玻璃/塑料)、灌裝壓蓋瓶、其他硬質(zhì)包裝容器、電器元件等試樣的 無損正、負(fù)壓的微泄漏測試。本產(chǎn)品采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)和嚴(yán)謹(jǐn)、科學(xué)的計(jì)算方法保證了其快速測試和高準(zhǔn)確度及高穩(wěn)定 性。亦可滿足用戶的非標(biāo)準(zhǔn)(軟件或測試夾具)定制。
真空衰減法作為無損定量檢漏技術(shù)的代表,相比傳統(tǒng)檢漏方法如染色法、微生物侵入法優(yōu)勢明顯;相比其他的無損檢漏技術(shù)如激光法,適用范圍廣,符合標(biāo)準(zhǔn)多。 MLT-V100微泄露無損密封儀具有真空衰減法的最高檢漏精度≤1um,不僅適用于高、低真空度及常壓的包裝,也適用于固體、液體填充的包裝,非常適合于制藥行業(yè)的客戶使用。
與行業(yè)里長用的的檢測方法對比:
染色法:? 破壞性測試 ? 受多方面因素影響 ? 可能會出現(xiàn)假陽性結(jié)果
微生物侵入法:? 破壞性測試 ? 泄漏通道為曲折路徑時漏檢率高 ? 測試時間長,測試過程繁瑣
真空衰減法:? 無損測試? 定量檢測? 測試時間短? 可以檢測高真空度、低真空度和常壓的包裝
? 可以檢測液體部分的完整性 ? 可以直接檢測出泄漏率和漏孔大小
? 同時符合美國ASTM標(biāo)準(zhǔn)和FDA要求? 封口前泄漏封口后完好的包裝可以檢出
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