產(chǎn)品介紹
Olympus NDT新近為航空航天領(lǐng)域的用戶推出了一種用于探測(cè)蒙皮疊邊中裂紋的新型檢測(cè)方案。這種方案利用的ECA技術(shù)探測(cè)材料表面以下的缺陷。這項(xiàng)OmniScan技術(shù)具有很多優(yōu)勢(shì)特性。極大地降低了檢測(cè)時(shí)間，C掃描成像、探頭可覆蓋寬泛的區(qū)域，編碼掃查，以及記錄數(shù)據(jù)/設(shè)置的性能只是其中的幾項(xiàng)。C掃描直觀的成像特性不僅保證了更高的探出率及更好的再現(xiàn)性，而且可使用戶在屏幕上更容易地辨別成排的鉚釘及蒙皮疊邊。因其覆蓋寬泛的特性，探頭的定位就顯得不那么重要。而且，這個(gè)特性還可使用戶在同一次掃查中檢測(cè)到疊邊兩個(gè)側(cè)棱的情況。相較使用常規(guī)方法進(jìn)行同樣的檢測(cè)，這種檢測(cè)方案在減少檢測(cè)時(shí)間方面可謂是一個(gè)巨大的進(jìn)步。
利用渦流陣列（ECA）技術(shù)檢測(cè)蒙皮疊邊中裂紋的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)
? 節(jié)省時(shí)間：較常規(guī)方法，檢測(cè)速度快達(dá)10倍（一般來(lái)說(shuō)，737飛機(jī)的檢測(cè)時(shí)間為1人10小時(shí)）。
? 波音737手冊(cè)中提及了此檢測(cè)方案（NTM 737 NDT 53-30-25，第6部分）。
? 可替代現(xiàn)有的ECT檢測(cè)方案（NTM 737 NDT 53-30-18，第6部分）。
? 具有與ECT相同的探測(cè)缺陷的靈敏度。
? 更高的檢出率。
? 更好的再現(xiàn)性。
? 編碼C掃描視圖中直觀的圖像。
? 無(wú)需去除漆層。
性能指標(biāo)
探頭技術(shù)規(guī)格
?32通道探頭。
?頻率范圍：4 kHz～225 kHz。
?探頭覆蓋：64 mm。
?線纜長(zhǎng)度：2.4 m。
?編碼器和探頭線纜綁縛在一起。
?帶有特制的編碼器托架。
探頭性能
?對(duì)疊邊棱角不敏感。
?優(yōu)化后，可以檢測(cè)厚度達(dá)1.2毫米（0.05英寸）鋁板的典型深層裂紋。
?可以檢測(cè)Z深50%、長(zhǎng)12毫米（0.5英寸）的遠(yuǎn)端裂紋。
視圖中顯示有C掃描、阻抗圖及帶狀圖。請(qǐng)注意疊邊和鉚釘在視圖中清晰可見。
替代磁光成像（MOI）檢測(cè)系統(tǒng)的更具優(yōu)勢(shì)的檢測(cè)方法
?耗資更少。
?更易使用。
?利用從已經(jīng)過驗(yàn)證的渦流技術(shù)發(fā)展起來(lái)的。
?數(shù)據(jù)記錄性能。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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