高低溫沖擊試驗(yàn)箱 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

技術(shù)參數(shù)：

　　1.型號(hào):TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35×30×35cm

　　2.型號(hào):TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40×35×35cm

　　3.型號(hào):TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40×50×50cm

　　4.型號(hào):TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60×50×50cm

5.型號(hào):TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm

5.型號(hào):TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)：TSB-80F-3P

標(biāo)稱容積：80L

試驗(yàn)方式：氣動(dòng)風(fēng)門切換3溫室方式

高溫室性能：預(yù)熱上限溫度（+200℃）

高溫室升溫速率：（+70℃→+200℃≤20min）

低溫室性能：預(yù)冷下限溫度（-75℃）

低溫室降溫速率：（+70℃→-150℃≤80min）

試驗(yàn)室溫度偏差：±2.0℃

試驗(yàn)室高溫沖擊范圍：(+70℃→+150℃)

試驗(yàn)室低溫沖擊范圍：(-10℃→-55℃)

試驗(yàn)室溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min

試樣籃高低溫室轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s

試樣擱架承載能力：30kg

設(shè)備特點(diǎn)：

1.采用進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置,控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線

2.箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

3.可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

高低溫沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及執(zhí)行方法：

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；

GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；

GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。