用途特點
正置金相顯微鏡，觀察面向上，適宜于尋找特定或廣域范圍內表面目標的觀察研究和分析。廣泛應用于電子行業(yè)IT、PCB和微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等，及材料金相組織結構的檢測、研究和分析等工作。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科研領域。。
反射（同軸落射）和透射照明雙光源（BX12B/C），適合各種試樣的觀察和攝影。
帶有偏光裝置的同軸落射照明系統(tǒng)，圖像清晰、襯度好，適合各種復雜試樣的觀察和攝影。
同軸縱橫向移動載物臺及內置多種濾色片切換，使操作方便。
升降調焦系統(tǒng)帶有限位裝置，可避免試樣與物鏡的磕碰，及大批量檢測時不必重復調焦。