DL50-ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特點(diǎn)：

1 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準(zhǔn)確穩(wěn)定
2 低功耗
3 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示
4 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜

6 探頭帶抗靜電模塊

◆ 技術(shù)指標(biāo)： 
測量范圍基本量程：方塊電阻10.0-199.9（Ω/口） 
擴(kuò)展量程：方塊電阻100-1999（Ω/口）
測量不確定度≤5%
探針規(guī)格 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
恒流源 測量過程誤差：≤±0.8%
電源 9V疊層電池1節(jié)