DL48-SP-601型方型四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，于測量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特性及規(guī)格：

1 特制之手握式探筆
2 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4 探頭使用壽命長
5 探針間距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

◆DL48-SP-601型方形四探針探頭規(guī)格： 
型號 
（Model） 曲率半徑
（Radius） 壓力
（loads） 探針間距
（spacing） 探針排列
（Arrangement）
DL48-SP-6010.5mm100g1.59mm方形