昆山市精佳儀器設(shè)備有限公司
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更新時(shí)間:2018-05-15 14:51:13瀏覽次數(shù):724次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)HELMUT FISCHER鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)。
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)。 *的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM® V.6軟件) 典型的應(yīng)用范圍如下:
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所有的設(shè)備遵循ASTM B568, DIN 60 987和 ISO 3497等國家和標(biāo)準(zhǔn)。
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL(M)® | FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B | FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-C4 | FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W | FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ | |
測(cè)量方向 | 從下往上 | 從上往下 | 從上往下 | 從上往下 | 從上往下 |
X-射線管型號(hào) W: 鎢管 MW: 微聚焦鎢管 | W 或 MW | W | MW | MW | MW |
可調(diào)節(jié)的高壓 30kV; 40kV; 50kV | |||||
開槽的測(cè)量箱體 | |||||
基本Ni濾波器 (可選擇) | |||||
接收器(Co) 可選擇的 WM-版本 | |||||
數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 | W-類型: 1 WM-類型: 4 | 1 | 4 | 4 | 1 |
z-軸 | 無 | 無,或電機(jī)驅(qū)動(dòng)或可編程的 | 電機(jī)驅(qū)動(dòng)的或可編程的 | 可編程的 | 可編程的 |
測(cè)量臺(tái)類型 | 固定臺(tái)面或可 選的手動(dòng)XY工作臺(tái) | 固定臺(tái)面 或 手動(dòng)XY工作臺(tái)或 可編程的XY工作臺(tái) | 手動(dòng)XY工作臺(tái)或 可編程的XY工作臺(tái) | 可編程的XY工作臺(tái) | 可編程的XY工作臺(tái) |
測(cè)試點(diǎn)的放大倍率 | 38 - 184 x | 20 - 180 x | 20 - 180 x | 40 - 568 x | 30 - 1108 x |
DCM方法 (距離控制測(cè)量) | |||||
WinFTM® 版本 | V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇 | V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇 | V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇 | V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇 | V.6 標(biāo)準(zhǔn) |
操作系統(tǒng): Windows XP prof. |
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主營產(chǎn)品:畢克BYK-gardner;易高Elcometer;儀力信Erichsen;光澤度儀;劃格器;百格刀;涂層測(cè)厚儀;濕膜輪;梳規(guī);鉛筆硬度計(jì);三菱鉛筆;3M測(cè)試膠帶;調(diào)墨刀;細(xì)度板;沖擊儀;粘度杯;密度杯;涂膜器;露點(diǎn)儀;粗糙度儀;電火花檢漏儀;UV能量計(jì);塵埃粒子計(jì)數(shù)器;硬度試驗(yàn)棒;美能達(dá)色差儀;Taber泰伯爾磨耗機(jī);RCA紙帶磨耗機(jī);耐橡皮擦酒精磨耗儀;鋯珠;遮蓋力測(cè)試紙;馬口鐵;標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色箱;福祿克FLUKE;三豐MITUTOYU;靜電測(cè)試儀;重錘式表面電阻儀;X-射線元素分析儀.
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