電子元件PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)品
2、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)磁性風(fēng)扇機(jī)構(gòu)循環(huán)（溫度/濕度分布均勻佳）
3、安全程序自動(dòng)停機(jī),自動(dòng)泄壓,自動(dòng)破真空,自動(dòng)給水
4、HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304
5、電磁風(fēng)扇馬達(dá)循環(huán)裝置濕度分布均勻
6、飽和或不飽和可程控模式
7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示
電子元件PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱 www.uvlhsyx.com 產(chǎn)品規(guī)格：
溫度范圍：+105.0℃~+142.9℃
濕度范圍：75%~RH
溫濕度穩(wěn)定度：±0.5℃、±3℃RH
溫度分布均度：±1℃
壓力范圍：0.2~2.0kg/cm2G（選配0.2~4.0kg/cm2G）
升溫時(shí)間：室溫上升140℃需約120分鐘
內(nèi)箱尺寸：￠45×45/￠65×60
材質(zhì)：內(nèi)外不銹鋼板
電源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A
 

【詳細(xì)說(shuō)明】
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受*的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC（電工委員會(huì)）所標(biāo)準(zhǔn)化。
【用途介紹】
高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

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