高低溫試驗(yàn)箱操作說明依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)  

《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》GB2423.22-93  

《溫度沖擊試驗(yàn)》GJB150.5-86  

《溫度沖擊方法》GJB360.7-87  

《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB11158-2008  

《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB10589-2006  

《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB10592-2008  www.uvlhsyx.com

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫》GBT2423.1-2008  

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》GBT2423.2-2008  

高低溫試驗(yàn)箱操作說明規(guī)格說明 :

★精度: 溫度： ±0.1 ％F.S/濕度：±1 %RH＋1digit

★精度保證范圍: －99.9~200.0℃/10.0~100.0 %RH

★測定周期: 1秒（溫度、濕度各0.5秒）

★程式組容量: 100PATTERN（組）/1000STEP（段）

★REPEAT次數(shù): 每組程式多可設(shè)999次

★入力: DRY/WET；Pt100/4~20mA；4~20mA/4~20mA可選

★主輸出控制: SSR/DC4~20mA可選擇

★接點(diǎn)出力: PID CONT.×2（溫/濕度）,RUN×1,濕度RUN×1,

用途 ：

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

結(jié)構(gòu)特點(diǎn):

★產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究。 

★設(shè)備分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。

★采用觸控式液晶（LCD）顯示人機(jī)介面控制器，的計(jì)測裝置, 操作簡單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。 

★具96個試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時間999小時59大分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動運(yùn)轉(zhuǎn)，大程度上實(shí)現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運(yùn)行。 

★箱體左側(cè)具有50mm之測試孔1個，可供外加電源負(fù)載配線測試部件。