高低溫測試箱的用途：  

   該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。  

一、高低溫測試箱的使用現(xiàn)場條件：  

1．溫度：15℃~35℃  

2．相對濕度：不大于85%RH  

3．周圍無強(qiáng)烈振動、無強(qiáng)烈電磁場影響  

4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)  

5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射  

6．周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。  

7．試驗箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。  

8．試驗箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。  

9．安裝場地通風(fēng)良好  

10．良好接地  

二、高低溫測試箱的主要技術(shù)指標(biāo)：    

1、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+150℃  

2、濕度范圍：30%～98%RH  

3、溫度波動度：±0.5℃  

4、溫度偏差：≤2℃  

5、濕度偏差：+2-3%RH  

6、升降溫速率：0.7～1℃/min  

三、型號規(guī)格  工作尺寸（mm）  

THV-100  400×450×550  

THV-150  500×600×500  

THV-225  500×600×750  

THV-408  600×800×850  

THV-500  800×800×800  

THV-800  800×1000×1000  

THV-1000  1000×1000×1000 

四、高低溫測試箱的結(jié)構(gòu)特征：   

1、內(nèi)壁：進(jìn)口SUS304不銹鋼  

2、外殼：冷軋板靜電噴涂  

3、保溫材料：硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡或超細(xì)玻璃棉，具有保溫性有好等特點  

4、密封：進(jìn)口硅膠密封條  

5、控溫濕方式：BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕  

6、觸摸屏溫濕度控制儀，進(jìn)口韓國觸摸屏，PID整定調(diào)節(jié)，0.1級精度，升溫、降溫、加濕、去濕獨立，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗，有程序運行和恒定運行功能  

7、加熱：不銹鋼翅片空氣加熱  

8、加濕：淺槽蒸汽加濕  

9、冷機(jī)：*全封閉壓縮機(jī)，機(jī)械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)  

10、設(shè)備供水凈化器  

11、上電自動進(jìn)水  

12、對流系統(tǒng)：空調(diào)電機(jī)定制鋁風(fēng)葉  

13、設(shè)備運行定時器  

14、箱門*設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈  

15、全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)，主控制儀采用韓國進(jìn)口觸摸屏溫濕度控制儀  

16、帶獨立的高度升降裝置，便于設(shè)備與振動臺配套。  

五、高低溫測試箱的服務(wù)：  

1．提供設(shè)備的電氣原理圖、易耗件明細(xì)表、操作維護(hù)手冊等技術(shù)資料，并提供主要外購配套件的技術(shù)資料。  

2．培訓(xùn)設(shè)備操作、維護(hù)人員，使其*掌握設(shè)備的操作技能和一般性的維修、保養(yǎng)技能。  

3．自設(shè)備通過驗收之日起的1年內(nèi)，向買方提供免費的售后服務(wù)  

4.（相關(guān)軟件及技術(shù)升級*免費支持）包修期滿后提供有償服務(wù)。   

六、該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造：  

GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件  

GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件  

GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件  

GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件  

GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備  

GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法  

GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法  

GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法  

GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Db：交變濕熱試驗方法  

GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則  

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