低溫低氣壓試驗(yàn)箱用途：

低溫低氣壓試驗(yàn)箱主要用于、航天、電子、國(guó)防、科研和其它工業(yè)部門(mén)確定電工電子產(chǎn)品（包括元器件、材料和儀器儀表）等在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或同時(shí)作用下，進(jìn)行儲(chǔ)存運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對(duì)試品通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)測(cè)試，以便對(duì)試品在給定環(huán)境條件下的行為性能作出評(píng)價(jià)。

低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):  （）

內(nèi)部容積:1000L（可定制）  

2.溫度范圍:-70℃～150℃（可定制）  

3.溫度波動(dòng)度:±0.5℃（常壓）  

4.溫度偏差:±2.0℃（常壓）  

5.升溫時(shí)間:20℃～150℃≤60分鐘（常壓、空載）（可定制）  

6.降溫時(shí)間:常溫～-70℃≤45min（常壓、空載）（可定制）  

壓力范圍:常壓～0.5kPa（可定制）  

8.壓力誤差:±1kPa（可定制）  

9.降壓時(shí)間:≤20min（可定制）  

低溫低氣壓試驗(yàn)箱主要特點(diǎn):  

1.*的平衡調(diào)溫方式，使設(shè)備具有高精確、高穩(wěn)定的溫度控制。  

2.工作室采用不銹鋼板材，試樣擱架亦采用不銹鋼材料制所，耐腐蝕，易于清洗。  

3.設(shè)有氮?dú)庖肟?，方便試樣的無(wú)氧化測(cè)試。  

4.設(shè)備控制器采用一臺(tái)高精度、高穩(wěn)定具有PID自調(diào)諧，液晶顯示，確保設(shè)備精確控制。  

5.設(shè)備具有超溫保護(hù)，聲訊提示和定時(shí)功能，在定時(shí)結(jié)束或報(bào)警時(shí)，自動(dòng)切斷電源使設(shè)備停止運(yùn)行，確保設(shè)備和人身的安全。  

6.密封條采用特殊材料，具有韌性好，在高低溫低氣壓環(huán)境下，不易變形發(fā)粘，密封性好等特點(diǎn)。  

7.箱體采用靜電噴塑，色調(diào)均勻，美觀(guān)大方。  

低溫低氣壓試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):  

GJB150.2-86高低溫低氣壓試驗(yàn)方法  

GB/T10590-2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

GB/T2424.15-92電工子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則）  

IEC68-3-2（1976）基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)  

GB/T2423.25-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)》；  

GB/T2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)》；  

GB2423.27-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD低溫／低氣壓／濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法》。  

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