通遼交變環(huán)境試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89西安速通遼交變環(huán)境試驗(yàn)箱機(jī)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

　　試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)?！　?/span>

通遼交變環(huán)境試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)性能   .gdwcjx. 

控制方式　　平衡調(diào)溫調(diào)濕方式（BTHC）PID智能調(diào)節(jié)

溫度范圍　　0℃～150℃,-20℃～150℃,-40℃～150℃,-70℃～150℃

濕度范圍　　20%到98%

溫度均勻度　　±2℃

溫度波動(dòng)度　　±0.3℃

升溫速率　　≥3℃/min

降溫速率　　≥1℃/min

通遼交變環(huán)境試驗(yàn)箱指可以一次性將需要做的溫度、濕度、時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)，試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序，濕熱試驗(yàn)箱就是在溫度的基礎(chǔ)上加濕熱系統(tǒng)，使做溫度的同時(shí)也可以做濕度測(cè)試，使試驗(yàn)效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測(cè)樣品的可靠性更高.

產(chǎn)品型號(hào)　　TH-80　  　 TH-150　　TH-225　  　TH-408　

內(nèi)部尺寸CM　　40×50×40　 　50×60×50　　  50×75×60　　60×85×80

外部尺寸CM　　85×140×95　　95×150×105　　95×165×115　  　105×175×135

通遼交變環(huán)境試驗(yàn)箱電磁兼容標(biāo)準(zhǔn):

　　GB/T17626.2-2006/IEC61000-4-2:2001《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試

　　GB/T17626.3-2006/IEC61000-4-3:2002《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》

　　GB/T17626.4-2008/IEC61000-4-4:2004《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)》

　　GB/T17626.5-2008/IEC61000-4-5:2005《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》

　　GB/T17626.6-2008/IEC61000-4-6:2006《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度》

　　GB/T17626.8-2006/IEC61000-4-8:2001《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》

　　GB/T17626.11-2008/IEC61000-4-11:2004《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》

　　GB17625.1-2003/IEC61000-3-2:2001《電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值（設(shè)備每相輸入電流≤16A）》

　　GB17625.2-2007/IEC61000-3-3:2005《電磁兼容限值對(duì)每相額定電流≤16A且無(wú)條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動(dòng)和閃爍的限制》

　　GB/T17626.13－2006/IEC61000-4-13:2002《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)》

　　GB/T17626.17－2005/IEC61000-4-17:2002《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)》

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