低溫貯存測(cè)試用途：低溫貯存測(cè)試主要應(yīng)用于測(cè)試光伏組件，特別是單晶硅組件、地面用晶體硅光伏組件、地面用薄膜光伏組件等一系列的產(chǎn)品進(jìn)行熱循環(huán)、濕冷、濕熱試驗(yàn)后，產(chǎn)品的參數(shù)及性能。

低溫貯存測(cè)試結(jié)構(gòu)及材質(zhì)： 

內(nèi)箱材質(zhì)：SUS#304耐高低溫不銹鋼板。 

外箱材質(zhì)：彩鋼板。 

保溫層：采用高強(qiáng)度PU發(fā)泡，可避免不必要的能量損失。 

雙門，從中向兩邊開啟。 

測(cè)試門與機(jī)體采耐高低溫之高張性密封條,以確保測(cè)試區(qū)之密閉。 

測(cè)溫體：瑞士羅卓尼克溫濕度一體傳感器。 

大觀測(cè)視察附照明保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式玻璃，隨時(shí)保持清晰的觀測(cè)窗內(nèi)的狀況。 

箱 機(jī)體左側(cè)與上方具兩個(gè)直徑50mm的測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。 

機(jī)器底部采用高質(zhì)量可固定式活動(dòng)輪，以便固定及移動(dòng)之用。 

性能特點(diǎn)：

科學(xué)的空氣流通設(shè)計(jì)、避免任何死角、使箱內(nèi)溫度分布均勻，保證組件測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

真彩觸摸式可程式控制器，配備電腦連線接口，使用者可以在電腦屏幕上設(shè)計(jì)程序，收集測(cè)試資料與記錄、呼叫程式執(zhí)行、遙控機(jī)器開關(guān)機(jī)等功能，自動(dòng)化程序高，操作簡(jiǎn)單。

異常狀況發(fā)生時(shí)，控制器屏幕上即時(shí)自動(dòng)顯示故障狀態(tài)，切斷電腦開關(guān)，并提供故障排除方法。

冷凍系統(tǒng)采用二元復(fù)疊制冷與常溫制冷結(jié)合設(shè)計(jì)，二元復(fù)疊制冷于不同溫域采用不同壓縮機(jī)做功，以增加設(shè)備的使用壽命。

組件試驗(yàn)方法：

1、熱循環(huán)試驗(yàn)：空氣的循環(huán)速度不低于2m·s-1,使組件的溫度在-40 ±2℃ 和85±2℃之間,高和低之間的溫度變化速率不超過(guò)100 ℃/h ，在每個(gè)溫度下,應(yīng)保持穩(wěn)定至少10min 。一次循環(huán)不超過(guò)6h。

2、濕-冷試驗(yàn)：組件的溫度在-40 ±2℃ 和85±2℃之間,高和低之間的溫度變化速率不超過(guò)100 ℃/h或不超過(guò)100 ℃/h，使組件完成10次循環(huán)，高和低溫度應(yīng)在所設(shè)定值的±2℃以內(nèi)，室溫以上各溫度下，相對(duì)濕度應(yīng)保持在所設(shè)定值的±5%以內(nèi)。

3、濕-熱試驗(yàn)：試驗(yàn)溫度在85±2℃，相對(duì)濕度85%±5%,試驗(yàn)時(shí)間為1000個(gè)小時(shí)。

低溫貯存測(cè)試技術(shù)參數(shù)：

試驗(yàn)區(qū)尺寸：80×80×80 

機(jī)器外尺寸：140×165×115 

溫度范圍：－40℃～85℃。 

濕度范圍：10% ～ 98% RH。   

升溫速率：－40℃～+85℃,平均 1～3℃/min。 

降溫速率：+85℃～－40℃,平均 1～3℃/min。 

低溫貯存測(cè)試儀表解析精度：  

溫度：0.1℃。 

濕度：0.1%RH。 

低溫貯存測(cè)試儀表控制精度：  

溫度：±0.3℃。 

濕度：±1.5%RH。 

低溫貯存測(cè)試波動(dòng)度：  

溫度：≤±0.5℃。 

濕度：≤±1.5%RH。 

溫度均勻度：≤2℃。 

溫度偏差：≤±2℃。 

濕度偏差: +2%RH，-3%RH。 

低溫貯存測(cè)試滿足的試驗(yàn)方法：

本產(chǎn)品滿足IEC61215、IEC61646、IEC61730、GB/T19394－2003、 GB/T9535－1998、GB/T6492－1986、GB/T6494、GB/T6497、SJ/T2196; IEC61345－1998; IEC61646、GB 10592—89、GB10586－89等標(biāo)準(zhǔn)。