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      電纜動態(tài)老化試驗廠，電路板高壓蒸煮儀介紹詳細(xì)信息：

      用途介紹：冷熱交變沖擊試驗機(jī)為了仿真不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。（需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下）RAMP試驗條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)（可控制斜率的溫度沖擊）。

  電纜動態(tài)老化試驗廠，電路板高壓蒸煮儀精準(zhǔn)參數(shù)介紹：

      Models TS-27 TS-80 TS-150 TS-225

      Inside Dimensions

      W x D x H cm 40X35X35 50X40X40 60X50X50 70X60X60

      Outside Dimensions

      W x D x H cm 140X165X165 150X200X175 160X225X185 170X260X193

      Precool/Preheat Range -00.00℃～-75.00℃/ 60.00℃～ 200.00℃

      Shocking Range -10.00℃～-65.00℃/ 60.00℃～ 150.00℃

      Time Range 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment

      Resolution 0.01℃/min

      Temperature Uniformity ±3.00℃以內(nèi)（under℃3.00℃）

      Range of temperature variation（℃/min） 5℃～ 30℃/min（ 40℃）

      （Three boxes）range of box brushing -65℃～ 150℃ ±2.00℃以內(nèi)（under ±2.00℃）

      （Two boxes）range of box brushing -55℃～ 150℃ ±2.00℃以內(nèi)（under ±2.00℃）

電纜動態(tài)老化試驗廠，電路板高壓蒸煮儀滿足標(biāo)準(zhǔn)介紹：

      1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件

      2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件

      3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件

      4.GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

      5.GB/T 2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法

      6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法

      7.GJB150.3-1986高溫試驗

      8.GJB150.4-1986低溫試驗

      滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

  電纜動態(tài)老化試驗廠，電路板高壓蒸煮儀技術(shù)特點介紹：

      ◆ 可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（3H）、兩箱沖擊（2H）、高溫儲存、低溫儲存功能

      ◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃（40℃）

      ◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

      ◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行

      ◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成

      ◆ 通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能

      ◆ 感測器放置測試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實驗有效性

      ◆ 機(jī)臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報警功能