高低溫沖擊試驗(yàn)室（www.kcshwhs.com）：

節(jié)能高低溫試驗(yàn)箱適用于航天產(chǎn)品，船舶兵器、高等校院、汽車(chē)、摩托車(chē)、信息電子、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品及各種電子元器件在高低溫（交變）循環(huán)變化環(huán)境下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:

　　GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

       GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

　　GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

　　GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

　　GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

　　GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

　　GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

　　GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

　  GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則