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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌艾思荔/Asli
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地重慶市
聯(lián)系方式:婁經(jīng)理查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2021-03-26 16:37:53瀏覽次數(shù):270次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)高溫老化試驗(yàn)房相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些
高溫老化試驗(yàn)房市場(chǎng)價(jià)是多少?
高溫蒸煮(www.kcshwhs.com)加熱方法:
◆採(cǎi)用三面加熱的熱輻射的方式。機(jī)械圓表顯示箱內(nèi)的真空度。
◆發(fā)熱材料為發(fā)熱管;
◆溫度設(shè)定範(fàn)圍:常溫~700℃之間,自由設(shè)定你所要的溫度值。
高溫蒸煮 用途:
◆加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
◆用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈3、什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
◆隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受*的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類(lèi)型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。
◆注意事項(xiàng):USPCT現(xiàn)在稱(chēng)為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))
應(yīng)用于電子電器、線路板、化工能源、太陽(yáng)能、磁性材料等。HAST試驗(yàn)箱圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)物品,可預(yù)防試驗(yàn)中有滴水結(jié)露現(xiàn)象,可避免蒸汽過(guò)熱直接沖擊操作人員。
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