兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校,工廠,,研位,電器等企業(yè)單位.
兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試方法:
1.溫度范圍:-55°C/+150°C
2.溫度波動(dòng)度:±0.5℃
3.溫度偏差:±2.0℃
4.高溫槽溫度范圍:60°C/+200°C
5.低溫槽溫度范圍:-70°C/-10°C
6.溫度變化速率:
7.升溫速率:+60~+200℃≤30分鐘(高溫槽)
8.降溫速率:-10~-70℃≤90分鐘(低溫槽)
9.溫度恢復(fù)時(shí)間小于5分鐘
10.溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間小于10S
11.除霜時(shí)間:150個(gè)循環(huán)以上
12.沖擊時(shí)間:高溫(150℃)30min
13.沖擊時(shí)間:低溫(-55℃)30min
兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法試驗(yàn)Na
如未特殊說明,以上性能指標(biāo)均為空載情況下測定。
兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校,工廠,,研位,電器等企業(yè)單位.
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