可程式高低溫試驗儀

       設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。本試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便于產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

型號        工作室尺寸 （cm）

TH-150      W50×D50×H60   

TH-225      W50×D60×H75  

TH-408      W60×D80×H85   

TH-800      W80×D100×H100

TH-1000     W100×D100×H100   

TH-1500     W100×D150×H100 

溫度范圍 

A型: 0℃～+100℃（+150℃）

B型: -20℃～+100℃（+150℃）

C型: -40℃～+100℃（+150℃）

D型: -70℃～+100℃（+150℃）  

可程式高低溫試驗儀技術參數(shù)：

波動度：±0.5℃ 

均勻度：±2℃ 

升溫速率：3.0℃/min   （ 可按客戶要求定做） 

降溫速率：0.7～1℃/min    （可按客戶要求定做） 

外箱材料：冷軋板靜電噴塑/SUS304不銹鋼（任選一種） 

內箱材料：SUS304不銹鋼板 

保溫材料：超細玻璃纖維保溫棉/硬質聚胺脂發(fā)泡 

箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條 

可程式高低溫試驗儀設備符合標準：

GB 10589 低溫試驗箱技術條件

GB 10592 高低溫試驗箱技術條件

GB 11158 高溫試驗箱技術條件

GB/T5170.2 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備

GB2423.1 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

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：   李生

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