冷熱沖擊試驗箱溫度沖擊試驗：

　　1、升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。

　　2、溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的差異主要是應力負荷機理不同。溫度沖擊試驗主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。

　　3、溫度沖擊試驗容許使用二槽式試驗裝置;溫度循環(huán)試驗使用單槽式試驗裝置。在二槽式箱體內，溫度變化率要大于50℃/分鐘。

　　4、引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。

　　5、加速應力試驗：加速試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間，對試驗樣品進行的加速試驗，以考察其失效機理。試驗的加速就是采用加大應力的方法促使試驗樣品在短期內失效，。但是必須注意避免其它應力原因引起的失效機理。

　　冷熱沖擊試驗箱溫度循環(huán)試驗：

　　1、溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響，試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時，為達到蠕變及疲勞損傷的效果，*試驗溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗，曝露時間為各1 5分鐘。

　　2、環(huán)境應力篩選試驗(ESS= Environmental Stress Screening)

　　3、對產品施加環(huán)境應力促使早期失效產品存在的潛在缺陷盡快而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗，主要適用于成品的可靠性篩選試驗。

　　冷熱沖擊試驗箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到標準GB10592-89高低溫試驗箱技術條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產品環(huán)境試驗試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，試驗》對產品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。產品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。