楊軍
目錄:無錫蘇南試驗設(shè)備有限公司>>冷熱沖擊試驗箱>> 兩箱式冷熱沖擊試驗箱
設(shè)備的工作室尺寸及溫度沖擊范圍可根據(jù)用戶需求訂制。
1.1. 工作室溫度沖擊范圍 1.2. 高溫室溫度范圍 1.3. 低溫室溫度 1.4. 溫度波動度: 1.5. 溫 度 偏 差 1.6. 溫度恢復(fù)時間 1.7. 溫度轉(zhuǎn)換時間
| -40℃~+150℃ 60℃~200℃、升溫時間≤45分鐘 -10℃~-50℃、降溫時間≤50分鐘 ≤±0.5℃ ≤±2℃ ≤5分鐘 ≤10 秒 |
1.8 吊 籃 尺 寸 1.9 高溫室尺寸 1.10 低溫室尺寸 | 350×250×50(mm)(長×寬×高) 500×500×400(mm)(長×寬×高) 500×500×400(mm)(長×寬×高) |
設(shè)備形式:二箱式 冷卻水溫: 28℃
箱體材質(zhì) | 高低溫沖擊試驗箱內(nèi)箱采用1.2mm優(yōu)質(zhì)不銹鋼板,外殼1.5mm冷軋板靜電噴塑 |
控制系統(tǒng) | 采用進(jìn)口彩色觸摸屏控制器,精度:±0.1℃ |
制冷系統(tǒng) | 采用進(jìn)口或法國“泰康”制冷機(jī)組,制冷劑進(jìn)口環(huán)保型R404A、R23 |
保護(hù)裝置 | 超溫保護(hù),缺相保護(hù),漏電保護(hù),壓縮機(jī)超壓等多重保護(hù)功能 |
高低溫沖擊試驗箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》試驗A:低溫試驗方法 |
GB/T2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》試驗b:高溫試驗方法 GB/T2423.22 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》試驗N:溫度變化試驗方法
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