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精密LCR數(shù)字電橋TH2828/TH2828A

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更新時間：2024-05-30 08:00:23瀏覽次數(shù)：130次

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產(chǎn)品簡介

TH2828/TH2828A型精密LCR數(shù)字電橋簡介TH2828/TH2828A型精密LCR數(shù)字電橋TH2828/TH2828A型精密LCR數(shù)字電橋詳細(xì)參數(shù)性能特點(diǎn):阻抗測量范圍最寬的自動平衡電橋技術(shù)四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合基本準(zhǔn)確度0

詳細(xì)介紹

TH2828/TH2828A 型精密LCR數(shù)字電橋簡介

TH2828/TH2828A 型精密LCR數(shù)字電橋詳細(xì)參數(shù)
性能特點(diǎn):
阻抗測量范圍最寬的自動平衡電橋技術(shù)
四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合
基本準(zhǔn)確度0.05%(TH2828)、0.1%(TH2828A)
達(dá)1 MHz的測量頻率范圍
交流測試信號可編程至20V(選件)
達(dá)30次/秒的測量速度
六位讀數(shù)分辨率
可測量22種阻抗參數(shù)組合
30 Ω, 100 Ω可選信號源輸出阻抗
10點(diǎn)列表掃描測試功能
內(nèi)部可編程直流偏置± 40 V/100 mA(選件)
外置偏流源至40 A(配置兩臺TH1775)
電壓或電流的自動電平調(diào)整(ALC)功能
V、I測試信號電平監(jiān)視功能
20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取
內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能
RS232C, GPIB和HANDLER接口
2 m/4 m測試電纜擴(kuò)展(選件, 僅TH2828)
USB接口供數(shù)據(jù)外存（僅TH2828)
320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示
中英文可選操作界面
簡要介紹:
TH2828/TH2828A是采用當(dāng)前國際的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達(dá)100 MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表掃描功能將有利于用戶擴(kuò)展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
TH2828/TH2828A是電子元件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強(qiáng)有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計(jì)和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強(qiáng)有力的工具。
計(jì)算機(jī)通訊及測試過程記錄提供了條件。
TH2828/TH2828A以其的性能可以實(shí)現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。

廣泛的測量對象：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。

多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
TH2828/A的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以精確地分析磁性材料、電感器件的性能。
　　使用TH10301選件的100mA DC的偏置電流可以精確測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以精確分析高功率、大電流電感器件。

精確的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。
　　儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。

液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是測試電壓不夠。
　　使用TH10301選件可提供分辨率為1%及達(dá)20Vms的可編程測試信號電平，使它能在條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。

半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
　　20HZ－1　MHz的測量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
　　為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至最小。
　　各種二極管、三機(jī)管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。

適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要
新材料、新元件的研究開發(fā)
TH2828/TH2828A具有的0.05%/0.1%基本準(zhǔn)確度極大提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數(shù)的細(xì)微變化，尤其對損耗器件的測試具有良好的性能。
提高生產(chǎn)效率
TH2828/TH2828A　30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。
　　內(nèi)建比較器、電纜長度補(bǔ)償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
　　內(nèi)建存儲器及USB外存裝置可大大減小操作時間并降低聽任錯誤。
應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗(yàn)手段
儀器具備的20Hz-1　MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
　　TH10301　及　TH1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。
　　提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。

用戶友好的操作界面
簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點(diǎn)陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果，各種設(shè)定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設(shè)置
TH2828/A提供有內(nèi)部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設(shè)置，TH2828還具有外部USB存儲卡進(jìn)行數(shù)據(jù)保存及多臺儀器統(tǒng)一進(jìn)行數(shù)據(jù)設(shè)置/調(diào)用。這將減小參數(shù)的設(shè)置錯誤并提高用戶使用效率。
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
TH2828/TH2828A提供有GPIB并行通訊（TH2828A）接口，為多機(jī)通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能，同時，儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計(jì)算機(jī)進(jìn)行遠(yuǎn)程通訊。

技術(shù)參數(shù):
比較器功能
比較器
測量的參數(shù)值可以分選為10檔
測量得出的副參數(shù)也可以比較輸出IN/OUT信號
計(jì)數(shù)值
0 — 999999
列表掃描比較
掃描列表中的每個點(diǎn)都可以輸出HIGH/IN/LOW信號
輸入保護(hù)
當(dāng)充電的電容連上測試端時，內(nèi)部保護(hù)電路工作。
可以保護(hù)的電容電壓可以由下式推出：

where: Vmax ≤200V
       C is in Farads
其他功能
存儲功能
外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設(shè)置文件
額外的設(shè)置文件可以保存在U盤中（TH2828A）
GPIB, RS232C
所有的儀器控制參數(shù)，測量值，比較值和掃描列表都可以通過GPIB（TH2828A選件），RS232C實(shí)現(xiàn)多機(jī)通訊或?qū)C通訊。
選件
TH10301
功率放大/直流偏置
增加交流信號到 20Vrms / 0.2Arms.
擴(kuò)展直流偏置范圍到  ±40V DC.
TH10401
2m / 4m 測試線選件
擴(kuò)展測試線的長度，增加2m或4m。
TH10202
Handler 接口
輸入的9對上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。
Handler提供與自動分選機(jī)相連的接口。所有的信號都是單獨(dú)的。
準(zhǔn)確度（細(xì)節(jié)請查看操作手冊）
測試環(huán)境
熱機(jī)時間
≥30 分鐘
環(huán)境溫度
23±5oC
測試信號電平
0.3Vrms – 1Vrms
清零
開路 和 短路
測試線長度
0 m
|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B
±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading)
1. A 是圖1和2中的基本準(zhǔn)確度因子
2. Ka and Kb 是阻抗比例因子
　 Ka 用于阻抗低于 500Ω
　 Kb 用于阻抗高于 500Ω.
3. Kc 是差值校準(zhǔn)值.
　 直接修正頻率時 Kc=0
　 其他頻率時 Kc=0.0003
4. C, L, B 測量時 D ≤ 0.1
　 R, G 測量時 Q ≤ 0.1
 D
±[Ae/100]  (D的值)
 當(dāng) A=[A+(Ka+Kb+Kc)×100]
 Q (When Qx×De<0.1)
 

 當(dāng), Qx 符合 Qvalue時
       De 是 D 的精確度
θ
 DEG
 ±[Ae/100]  (degress 值)
 RAD
±[(180/π)×(Ae/100)]  (degress 值)
　
一般技術(shù)要求：
工作溫度, 濕度 0℃ — 40℃, ≤90% RH
電源要求 198 V — 242 V AC,99 V-121 V AC 47.5 Hz — 63 Hz
功耗 ≤100 VA
尺寸(W×H×D) 430 mm×185 mm×473 mm
重量 15 kg Approx

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