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電化學工作站/化學工作站/工作站 型號:DP-CS350
電化學工作站/化學工作站/工作站 型號:DP-CS350產(chǎn)品介紹
DP-CS350電化學工作站(電化學測試系統(tǒng))是集電化學分析方法和電化學測試方法于體的電化學通用儀器,能成循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、溶出伏安等電化學分析方法;還可以成恒電流(位)化、動電位(流)掃描、任意恒電流(位)方波,多恒電流(位)階躍、電化學噪聲(電偶電流)、電化學阻抗(EIS)等電化學測試等功能,還可以行線性掃描循環(huán)伏安(CV)、階梯波循環(huán)伏安(SCV)、方波循環(huán)伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)和常規(guī)脈沖伏安(NPV)以及差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV)等電分析方法。測試系統(tǒng)控制與數(shù)據(jù)處理軟件是基于Windows98/2000/XP操作系統(tǒng)的,用戶界面遵守Windows軟件的規(guī)則,容易安裝和使用。系統(tǒng)軟件為方便使用者提供了強大的功能,包括文件管理、全面的實驗控制、靈活的圖形顯示、方便的圖形放大和還原、多種數(shù)據(jù)處理功能、數(shù)據(jù)的存貯與打印等。系統(tǒng)軟件具有良好的用戶界面,命令行參數(shù)所用的電化學理論和方法都盡可能采用Z為通用的電化學方面的術(shù)語,全中文菜單和界面,更方便地為教學和科研服務(wù)。
DP-CS350可用于較大電流和較槽壓的電化學測量和應(yīng)用,例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器由數(shù)字信號發(fā)生器(DDS)和直接數(shù)據(jù)存儲器(DMA)和恒電位儀/恒電流儀組成,電流/電位同步數(shù)據(jù)采集。儀器的電流輸出范圍為±2A,槽壓為±21V。電壓控制范圍:±10V;電流控制范圍:±2.0A;電流測量下限低于10pA。
DP-CS350電化學工作站采用恒電流階躍直接測量阻體系介質(zhì)電阻(如混凝土或涂層等介質(zhì)電阻),可對溶液電阻行實時或軟件補償;可對測試曲線行數(shù)字平滑,能對化曲線行電化學參數(shù)解析,可計算化電阻Rp值,Tafel斜率ba,bc值,交換電流密度icorr,腐蝕速率,還可計算統(tǒng)計噪聲電阻Rn,并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 97/2000文檔中。CorrTestTM電化學工作站采用USB或RS232串行口與計算機通訊,設(shè)備安裝簡單,即插即用。
外形尺寸:36.5cm(寬)´30.5cm(深)´16cm()
儀器重量:6.5Kg
電化學工作站/化學工作站/工作站 型號:DP-CS350指標
1、硬件參數(shù)指標
恒電位儀電位控制范圍:±10V
電流控制范圍:±2.0A
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV
電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)
電位分辨率:10uV(>100Hz), 2uV(<10Hz)
電流分辨率:10pA
電位上升時間:<1uS(<10mA),<10uS(<2A)
輔助數(shù)據(jù)采集24位@10KHz
參比電輸入阻抗:1012歐姆||10F
電流量程: 2A~200nA, 共8檔
槽壓:21V
CV 和LSV掃描速度:0.01~20000mV/s
CA和CC脈沖寬度:0.0001~1000s
電位掃描時電位增量:0.1mV@1V/mS
SWV頻率:1~100KHz
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s
AD數(shù)據(jù)采集:16位@1MHz,24bit @100Hz
CV的Z小電位增量:0.01mV
電位和電流測量低通濾波器
電流與電位量程:自動和手動設(shè)置
2、電化學阻抗測量指標
信號發(fā)生器
頻率響應(yīng):10uHz~100kHz
信號幅值:0mV~10V
直流偏差:-10~+10V
輸出阻抗:50歐姆
波形:正弦波,三角波,方波
正弦波失真:<1%
掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降
Z大負載電容:1nF;Z大負載電感:10uH
信號分析器
積分時間:Z小值:10mS 或者個循環(huán)的Z長時間
Z大值:106個循環(huán)或者105S
測量時間延遲:0~105秒
直流偏置補償
電位自動補償范圍:-10V~+10V
電流補償范圍:-1A~+1A
帶寬調(diào)整(Bandwidth):自動或手動設(shè)置,共8可調(diào)
DP-CS350測量與控制軟件主要功能
開路電位-時間曲線(OCPT)
恒電位法(計時電流法, CA)
恒電流法(計時電位法, CP)
多電位階躍(VSTEP)
多電流階躍(ISTEP)
動電位掃描(化曲線)
線性化(LPR)
鈍化回掃曲線(按擊穿電流回掃)
動電流掃描
任意恒電位方波
任意恒電流方波
恒電流儀
循環(huán)伏安法(CV)
階梯伏安法(SCV)
差分脈沖伏安法(DPV)
常規(guī)脈沖伏安法(NPV)
方波伏安法(SWV)
交流伏安法(ACV)
溶出伏安法
常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)
電化學阻抗
電化學噪聲測量
電偶腐蝕測量
氫滲透監(jiān)測
腐蝕速率計算
應(yīng)用域
1)研究電化學機理;物質(zhì)的定性定量分析;
2)常規(guī)電化學測試,包括電合成、電鍍和電池性能評價。
3)功能材料和能源材料的機理和制備研究;
4)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護效率快速評價以及氫滲測試等;
5)金屬材料在導電性介質(zhì)(包括水/混凝土等環(huán)境)中的腐蝕電化學測試。
系統(tǒng)配置
每套工作站包括:
1) 儀器主機臺;
2) 白金電、參比電、工作電及用電解池各支(套);
3) 模擬電解池個;
4) USB數(shù)據(jù)線條;
5) 噪聲測量用電纜線條;
6)DP-CS350測試與分析軟件CD張。
定深式采泥器/污泥采樣器/污泥采樣儀/單點粘度污泥取樣器 型號:DP-203
定深式采泥器/污泥采樣器/污泥采樣儀/泥碳土采樣器 采樣深度:10米,采樣直徑:5cm,采樣長度:30cm。(可定做其它規(guī)格)。
定深式采泥器/污泥采樣器/污泥采樣儀/泥碳土采樣器點:鉆頭巧妙、可實現(xiàn)定深采樣、避免鉆孔塌陷的煩惱、采樣方便快捷
定深式采泥器/污泥采樣器/污泥采樣儀/泥碳土采樣器用途:適于濕地、灘涂采樣。采集沼澤土、泥碳土。
定深式采泥器/污泥采樣器/污泥采樣儀/泥碳土采樣器配置:T型手柄1個、100cm延長桿9個、50cm延長桿2個、定深泥炭鉆頭1個、刮dao1把、扳手2個、刷子1把、3米鋼卷尺1個、手套1副、鋁箱1個
沉積物、沼澤土、泥碳土松軟,鉆孔容易收縮和塌陷。這就給逐層、深層采樣采樣帶來障礙。為此,門了定深式采泥器,鉆身旋轉(zhuǎn)閉合,可以實現(xiàn)在不采上層土樣的情況下,直接從深度將土壤采出。例如:要采沼澤面下60-90cm的土樣,將鉆頭壓入地下95cm處,然后將手柄旋轉(zhuǎn)180度,上提采樣鉆,即采到60-90cm處的土樣。
抓斗式采泥器/彼得遜采泥器/抓泥斗/污泥采樣器 型號:DP-201
規(guī) 格:材質(zhì):304不銹鋼,采樣深度:0-30m,次采樣量:3L ,開口面積10cm*20cm,采樣厚度:15cm 重量6Kg。
點:采樣方便、快捷。用戶無需另外增加任何配件,在保證安全的前提下即可使用。
用 途:采集河流、湖泊、池塘、水庫的水下沉積物(底泥、底質(zhì)、污泥)
標準配置:抓泥斗、鋼索、尼龍繩。 (可選配鋁箱)
沉積物采樣器--抓泥斗(彼得遜采泥器)是能深入泥層采集河流、湖泊、水庫的水下沉積物、底泥的抓斗式采泥器。
使用方法
①野外工作時,把采樣抓斗和繩拉好。
②將采樣抓斗張開,在張開的同時,將支桿放入搭溝內(nèi),采樣抓斗就不會緊閉。
③通過拉繩緩緩地將采樣抓斗,放入池中,當?shù)胶拥讜r,輕松下拉繩、支桿和搭鉤在彈簧的作用下會自動松開。
④用力提拉采樣抓斗、這時采樣抓斗會自動關(guān)閉,在關(guān)閉的同時會將河底污泥采入采樣抓斗中。
采購指南:可定做不同開口面積和重量
光譜光度計/光度計 型號:DP-OPT2000
DP-OPT2000型光譜光度計是行光譜快速測量與分析的業(yè)儀器。它不僅可以得到光源的光譜輻照度和光譜的峰值波長,而給出相應(yīng)的色坐標、主波長、色純度、色溫度、光亮度(或光照度)等主要光度和色度量,而且選用相應(yīng)附件后,還可以測量物體的光譜反射率、透射率,而獲得相應(yīng)物體色的色度量。系統(tǒng)不但可以對穩(wěn)恒光行測量,也可對脈沖光行測量。
主要性能及指標:
1、工作波段:380nm ~ 780nm
波長準確度:±1 nm
2、光譜輻照度測量范圍:0 ~ 2 mW /cm2·nm,
Z小分辨率:0.01 uW/cm2·nm
重復精度:±1.5%
測量精度:±5%
3、色度精度:x±0.005,y±0.005
4、采樣頻率;100 Hz ~1 Hz(根據(jù)被測光的強弱不同而不同)
5、電源:由計算機USB口供電
6、使用環(huán)境條件:
溫度: -10℃ ~ 40℃濕度: <85% RH
7、尺寸及重量:
106×100×62(mm3),1 Kg.
光輻射自動測控儀/光輻射測控儀 型號:DP-GCK-I
本儀器適用于實時監(jiān)測曝光量或曝輻量。用戶可以根據(jù)工作需要設(shè)定預置值,儀器在監(jiān)測量達到預置值時發(fā)聲報警。該儀器可廣泛應(yīng)用于材料老化、紫外殺菌、光化學、大規(guī)模集成電路光刻等域。
光輻射自動測控儀/光輻射測控儀 型號:DP-GCK-I
主要性能和指標:
1.測量波段與量程:
測量范圍 (nm) | 峰值波長 (nm) | 量 程 | 主要用途 | |
輻照度 | 曝光(輻)量 | |||
350—1050 | 半 寬 400—1000 | 999 mW/cm2 | 9999.9 MJ/m2 | 材料老化 |
230—290 | 254 | 9.99 mW/cm2 | 999.99 mJ/cm2 | 紫外殺菌 |
320—400 | 365 | 9.99 mW/cm2 | 999.99 mJ/cm2 | 印刷、光刻 |
380—460 | 420 | 9.99 mW/cm2 | 999.99 mJ/cm2 | 印刷 |
注:表中所列為常用波段和量程,用戶選購儀器時要確認工作波段以及量程。用戶也可選擇其它波段,例如峰值波長為313nm或340nm,但是要提前就主要指標與部溝通,雙方確認后再簽購銷合同。定制產(chǎn)品原則上不予退貨。
2.儀器顯示:本儀器有兩個LED顯示窗口,其中光輻照度顯示3位,
曝光量顯示5位,兩窗口的量程由用戶參照上表確定。
3.光輻照度及曝光量精度:±5% (相對于NIM標準)
4.使用環(huán)境:溫度:20℃±20℃ 濕度 <80%
使用光纖傳光束時,試驗箱的溫度可達到80℃左右。
5.電源:AC 220V
注:產(chǎn)品詳細介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的
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溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。